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ZYGO三款光学轮廓仪对比

产品简介

ZYGO三款光学轮廓仪对比
Nexview™ NX2是专为大规模集成电路(IC)、复合半导体和微机电系统(MEMS)晶圆的无损检测而设计的3D光学轮廓仪。它解决了大尺寸样品在高精度下全自动测量的挑战。

产品型号:
更新时间:2025-08-25
厂商性质:代理商
访问量:31
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ZYGO三款光学轮廓仪对比

ZYGO的ZeGage Pro、NewView 9000和Nexview NX2均基于成熟的CSI技术,但在设计理念和应用定位上各有侧重,为用户提供了不同层次的选择。

定位与设计对比:

  • ZeGage Pro:定位为便捷式解决方案。一体式设计使其开箱即可使用,减少了复杂的配置过程,适合空间有限的生产线或需要快速部署的实验室。

  • NewView 9000:定位为灵活可扩展的研发级平台。模块化设计允许用户根据未来需求升级系统功能,适用于多变的研究和开发环境。

  • Nexview NX2:定位为专用型在线检测系统。其一切设计都围绕处理大尺寸晶圆和实现全自动化检测,专为半导体制造流程优化。

性能与用途对比:
三款仪器在核心测量能力(垂直分辨率、精度)上均表现出色,但扩展性和专长不同。

  • ZeGage Pro:覆盖从光滑到粗糙表面的常规测量需求,胜任日常质检。

  • NewView 9000:通过更换物镜和添加模块,可应对更广泛的样品类型和更复杂的分析任务,如薄膜应力。

  • Nexview NX2:专注于半导体行业,其价值体现在全自动、大批量的晶圆处理和分析能力上,速度和自动化可靠性是关键。

选择建议:
用户应根据自身的样品尺寸、通量要求、检测环境(实验室或产线)以及未来需求来选择。对于常规质检,ZeGage Pro可能更为经济高效;对于前沿研发,NewView 9000提供更多可能性;而对于半导体产线,Nexview NX2则是经过市场验证的专业选择。


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