布鲁克ContourX-500：高效三维光学轮廓仪
在当今科技飞速发展的时代，对于高精度表面测量的需求愈发迫切。无论是精密制造、半导体加工，还是科研领域的微观研究，准确获取表面的三维信息至关重要。而 ContourX-500 三维光学轮廓仪，正以其出色的性能，成为众多行业的得力助手。
产品细节与用材
ContourX-500 整体采用了坚固耐用的材质打造，确保在不同环境下都能稳定运行。其光学部件经过精心挑选与组装，搭载了双色 LED 照明系统，能够提供稳定且均匀的光源，为高质量的测量成像奠定基础。仪器配备了 500 万像素的摄像头，可选用单色（标准配置）或彩色（可选配置），搭配 1200x1000 数据阵列，有效降低噪声、扩大视场并提高横向分辨率，让您清晰捕捉表面的每一处细节。
产品性能
高分辨率测量
ContourX-500 具备与放大倍率无关的优秀 Z 轴分辨率，垂直分辨率小于 0.01nm ，能够精准分辨表面极微小的高度差异，即使是纳米级别的起伏也能清晰呈现。水平分辨率可达 0.38μm min（Sparrow 准则），若搭配 AcuityXR® ，更是能低至 0.13μm ，为您提供超高清晰度的表面图像。
优良的自动化功能
该仪器拥有高级自动化功能，包含带编码器的 XY 轴样品台，可精确控制样品位置，实现自动化扫描。自动测头倾斜功能更是一大亮点，布鲁克专有的自动倾斜光学测头，能在一定角度范围内自动测试表面特征，减少跟踪误差。同时，自动亮度调整功能确保在不同样品反射率条件下，都能获取清晰的图像。
稳定的测量环境保障
仪器采用了紧凑的气动减震台设计，集成式气浮隔震能够有效隔绝外界震动干扰，为测量提供稳定的环境，保障了测量结果的准确性与可重复性。即使在较为复杂的工业环境中，也能稳定发挥出色性能。
参数表
用途
精密加工表面检测
在精密机械加工领域，可用于检测零部件表面的加工精度，如模具表面的粗糙度、平整度等，帮助制造商严格把控产品质量，确保产品符合高精度的设计要求。
半导体工艺制程
对于半导体晶圆的表面测量、芯片制造过程中的微结构检测等，ContourX-500 能够提供关键的表面数据，助力半导体企业优化生产工艺，提升产品良品率。
眼科与 MEMS 器件研发表征
在眼科镜片的表面质量检测以及微机电系统（MEMS）器件的微观结构分析中，其高分辨率与准确的测量能力，为科研人员提供了可靠的数据支持，推动相关领域的技术创新与产品研发。
使用说明
准备工作：将仪器放置在平稳、无震动的工作台上，接通电源并开启设备。确保样品表面清洁，无杂质、油污等影响测量的物质。
样品放置：通过带编码器的 XY 轴样品台，将样品准确放置在测量位置。对于需要倾斜测量的样品，可通过自动测头倾斜功能，设置合适的倾斜角度。
参数设置：根据样品的特性与测量需求，在 Vision64 和 VisionXpress 分析软件中设置相关参数，如扫描量程、分辨率、测量模式等。软件提供了丰富的预设选项，也支持用户自定义设置。
测量操作：点击开始测量按钮，仪器将自动进行扫描，获取样品表面的三维数据。在测量过程中，可实时观察测量进度与图像。
数据分析：测量完成后，软件会自动生成详细的测量报告，包含各种表面参数。用户可利用软件中的多种分析工具，对数据进行进一步处理与分析，如粗糙度计算、关键尺寸测量等。
ContourX-500 三维光学轮廓仪以其出色的性能、丰富的功能，为众多行业的表面测量需求提供了优质的解决方案。无论是追求高精度的工业生产，还是探索微观世界的科研工作，它都能成为您值得信赖的伙伴。
布鲁克ContourX-500：高效三维光学轮廓仪
相关文章
上一个：
返回列表
服务热线：
公司地址：
公司邮箱：
当前位置：首页
产品中心
产品简介
产品分类