布鲁克轮廓仪：中小量程测量优选
在精密测量领域，并非所有场景都需要超大量程的检测设备，中小量程的精准测量需求同样广泛。无论是电子元器件的微小表面检测，还是科研实验中局部微观结构的分析，都需要一款适配性强、性能可靠的测量仪器。ContourX-200 三维光学轮廓仪，正是针对这类需求打造，凭借紧凑设计与稳定性能，成为中小量程测量场景的理想选择。
产品细节与用材
ContourX-200 在材质选用上延续了可靠的品质标准，机身采用高强度合金材料，兼顾轻便与耐用性，能适应实验室、生产车间等多种工作环境。光学系统核心部件经过严格筛选，搭载定制化光学镜头组，减少光线折射损耗，确保成像清晰度。仪器配备 300 万像素高清摄像头，支持单色标准配置，搭配 800×600 数据阵列，在保证测量精度的同时，有效控制设备体积，整机尺寸更紧凑，节省安装空间，适合场地有限的工作场景。
此外，仪器操作面板采用耐磨防刮的亚克力材质，按键反馈清晰，长期使用不易出现磨损失灵的情况；样品台表面覆盖防腐蚀涂层，能有效保护台面不受样品残留物质侵蚀，延长设备使用寿命。
产品性能
适配中小量程的精准测量
ContourX-200 的 Z 轴最大扫描量程为≤5mm，专注于中小量程测量需求，垂直分辨率可达＜0.02nm，即使是微小的表面高度差异也能准确捕捉。水平分辨率为 0.5μm（Sparrow 准则），搭配优化的光学算法，能清晰呈现样品表面的微观纹理，如电子芯片引脚的平整度、微型模具的细微纹路等，满足中小尺寸零部件的精密检测要求。
灵活的操作与适配性
仪器支持手动与半自动两种操作模式，手动模式下，操作人员可通过微调旋钮精准控制样品台移动，适合小批量、多类型样品的灵活测量；半自动模式则可预设测量参数，实现简单流程的自动化检测，提升操作效率。同时，仪器兼容多种样品类型，无论是金属、玻璃等硬质材料，还是塑料、薄膜等柔性材料，只要样品尺寸在适配范围内，都能稳定完成测量，无需频繁更换适配附件。
稳定的环境适应性
针对不同工作环境的干扰因素，ContourX-200 配备了基础减震结构，能过滤轻微震动对测量的影响，在普通实验室环境下无需额外搭建专业减震平台。仪器光学系统具备温度补偿功能，当环境温度在 15-30℃范围内波动时，系统会自动调整光学参数，减少温度变化对测量精度的影响，确保在不同时段、不同环境下的测量数据一致性。
参数表
用途
电子元器件检测
在电子行业，可用于检测芯片表面的平整度、电容电阻的引脚焊接质量、PCB 板线路的细微缺陷等。例如，在手机芯片生产过程中，通过 ContourX-200 测量芯片封装表面的高度差，判断封装是否存在凸起或凹陷，避免因表面不平整影响后续组装与使用。
微型模具与精密零件制造
针对微型模具（如注塑模具的微小型腔）、精密五金零件（如钟表齿轮、微型轴承）的表面检测，能准确测量其粗糙度、尺寸偏差，帮助制造商把控生产精度，减少不合格产品流出。
科研实验与教学演示
在高校实验室、科研机构中，可用于材料科学、微电子学等领域的实验研究，如观察薄膜材料的表面形貌、分析微小复合材料的界面结构等；同时，其操作相对简便，也适合作为教学演示设备，帮助学生直观理解三维光学测量原理。
使用说明
设备启动与准备：将仪器放置在水平工作台面，连接电源与电脑（需安装配套软件），打开设备开关与软件系统。等待仪器自检完成（约 2-3 分钟），期间避免触碰样品台与光学部件。清洁样品表面，去除灰尘、油污等杂质，防止影响测量结果。
样品放置与定位：根据样品尺寸，调整样品台夹具（若样品较小，可使用专用载物片固定），将样品平稳放置在样品台中央。通过手动旋钮移动样品台，配合软件中的实时图像，将待测量区域调整至视野中心，确保成像清晰。
参数设置与测量：在软件中选择测量模式（手动 / 半自动），设置扫描量程（建议根据样品预估高度差选择，避免量程过大影响效率）、分辨率等参数。点击 “开始测量"，仪器将自动（或半自动）完成扫描，过程中保持环境稳定，避免震动与强光直射。
数据处理与保存：测量完成后，软件将自动生成三维形貌图与相关参数（如粗糙度 Ra、Rz 等）。可利用软件中的分析工具进行数据筛选、标注，生成测量报告。确认数据无误后，选择合适格式（如 Excel、图片格式）保存报告，便于后续分析与存档。
ContourX-200 三维光学轮廓仪以适配中小量程、操作便捷、性能稳定的特点，为电子、精密制造、科研教学等领域提供了可靠的测量解决方案，帮助用户在有程需求下，高效获取精准的表面三维信息。布鲁克轮廓仪：中小量程测量优选
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