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Sensofar LIN系列：实用经济的测量方案Sensofar LIN系列三维光学轮廓仪定位清晰，旨在为用户提供一种实用且经济的光学测量解决方案。它主要集成共聚焦和白光干涉（VSI）两种常用的光学轮廓测量技术，在满足绝大多数常规测量需求的同时，控制了系统的复杂度和成本。
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Sensofar LIN系列三维光学轮廓仪定位清晰，旨在为用户提供一种实用且经济的光学测量解决方案。它主要集成共聚焦和白光干涉（VSI）两种常用的光学轮廓测量技术，在满足绝大多数常规测量需求的同时，控制了系统的复杂度和成本。
LIN系列的设计专注于核心功能。它提供了稳定可靠的机械平台和标准的光学配置，用户可以根据自己主要的应用场景（例如，偏重粗糙表面还是光滑表面）来选择侧重于共聚焦或白光干涉的配置。虽然它不像S neox那样包含PSI模式且物镜切换的自动化程度可能有所不同，但其测量性能在各自的适用范围内依然表现出了良好的特性。
共聚焦模式使其能够应对具有一定粗糙度或复杂形貌的样品，如机械加工表面、涂层、喷丸表面等。而白光干涉模式则适用于测量平滑表面的台阶高度、薄膜厚度和纳米级纹理，如硅片、玻璃基板或抛光金属表面。
典型用途包括：
质量控制： 在生产线上对零部件（如密封圈、小型轴承、精密注塑件）的表面进行快速抽检。
材料研究： 在高校或企业研发部门，分析各种材料试样的表面磨损、腐蚀或加工后的形貌变化。
电子行业： 测量PCB板焊盘高度、小型电子元器件的共面性。
使用说明： LIN系列的操作力求简洁。用户放置样品后，在软件上选择测量模式（共聚焦或VSI）和合适的物镜，设定扫描范围后即可开始自动测量。软件提供标准的数据分析工具，如粗糙度、台阶高度、体积计算等，可快速生成检测报告。
对于预算有限、测量任务相对集中，或希望为生产线配备高效检测工具的用户来说，LIN系列提供了一个门槛相对较低且功能实用的入门选择。