布鲁克ContourX-100：三维形貌测量好助手
在精密制造、材料科学等领域，对物体表面三维形貌的精准测量是保证产品质量和研究深度的重要环节。三维光学轮廓仪 ContourX-100 凭借*的光学技术和稳定的性能，成为众多实验室和生产车间的实用选择。
产品细节：设计贴合测量需求
ContourX-100 的机身采用高强度铝合金框架，表面经过阳极氧化处理，不仅质感优良，还具备一定的防腐蚀能力，能适应车间或实验室的复杂环境。设备的工作台面为高精度花岗岩材质，具有良好的稳定性和平面度，可减少环境振动对测量的影响。工作台下方配备精密导轨，支持 X、Y 方向的手动或自动移动，移动过程平稳顺滑，便于调整样品位置。
光学系统是 ContourX-100 的核心部分，采用非接触式测量设计，搭载高分辨率相机和多组光学镜头，镜头焦距可根据测量范围灵活切换。设备的照明系统采用 LED 冷光源，亮度可调节，能避免因光源发热对样品造成影响，同时保证成像清晰稳定。操作面板集成在设备前端，按键布局合理，配合高清触摸屏使用，参数设置和操作流程直观易懂。
设备还内置了防尘罩，可在不使用时将光学镜头和工作台覆盖，防止灰尘进入影响测量精度。机身侧面预留了多个数据接口，支持与电脑、打印机等设备连接，方便数据的传输和报告生成。
产品性能：稳定输出可靠数据
ContourX-100 采用白光干涉技术进行三维形貌测量，测量范围覆盖从纳米级到毫米级，能满足不同精度要求的测量任务。其纵向分辨率可达纳米级别，横向分辨率也处于较好水平，可清晰捕捉样品表面的微小起伏、划痕、凹陷等细节。
设备的测量速度较快，对于常规尺寸的样品，几分钟内即可完成一次完整的三维扫描，并生成直观的三维形貌图和量化数据。测量重复性较好，在相同条件下多次测量，结果偏差较小，能为质量检测和科研分析提供可靠的数据支持。
ContourX-100 的环境适应性较强，在温度 20-25℃、湿度 40%-60% 的环境中能保持稳定性能。设备内置温度补偿功能，可减少环境温度波动对测量结果的影响，进一步保证数据的准确性。
用材、参数与用途
ContourX-100 的关键部件选用高品质材料，光学镜头采用低色散玻璃，减少光线折射误差；传动部件采用精密滚珠丝杠和直线导轨，确保运动精度；传感器选用高灵敏度器件，提高信号采集质量。
部分参数如下：
该设备广泛应用于精密制造、半导体、材料科学等领域。在精密制造中，可用于检测刀具、模具的表面粗糙度和磨损情况；在半导体行业，适用于芯片表面缺陷检测和薄膜厚度测量；在材料科学中，能分析新材料的表面形貌与性能之间的关系。
使用说明
使用前需检查设备是否放置平稳，环境温度和湿度是否符合要求。将样品放置在工作台上，调整样品位置，使测量区域位于镜头下方。打开设备电源，通过触摸屏选择合适的镜头和测量模式，设置扫描范围、分辨率等参数。
启动测量后，设备会自动进行扫描和数据采集，过程中避免触碰设备或样品。测量完成后，系统会自动生成三维形貌图和粗糙度、台阶高度等量化数据，可通过软件进行数据分析和报告生成。
使用完毕后，关闭设备电源，清理工作台面，盖上防尘罩。定期对光学镜头进行清洁，可用专用镜头纸轻轻擦拭；每月检查导轨润滑情况，必要时添加专用润滑剂；每季度进行一次精度校准，确保测量结果的可靠性。
三维光学轮廓仪 ContourX-100 以其贴合需求的细节设计、稳定的性能和广泛的用途，为三维形貌测量工作提供了有力支持，是精密测量领域的实用助手。
布鲁克ContourX-100：三维形貌测量好助手
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