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布鲁克轮廓仪：材料表面形貌分析工具布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500是一款用于材料表面形貌分析的测量工具，适用于工业检测和实验室研究。该产品采用非接触式光学干涉技术，能够对多种材料表面进行三维形貌测量，包括金属、陶瓷、聚合物和薄膜等。
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布鲁克轮廓仪：材料表面形貌分析工具
布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500是一款用于材料表面形貌分析的测量工具，适用于工业检测和实验室研究。该产品采用非接触式光学干涉技术，能够对多种材料表面进行三维形貌测量，包括金属、陶瓷、聚合物和薄膜等。
ContourX-500的核心部件包括光源模块、干涉镜头、样品台和控制系统。光源采用LED白光，配合多波段滤波器，可适应不同反射特性的样品。干涉镜头设计紧凑，支持自动切换物镜，实现不同放大倍率的测量。样品台由铝合金制成，表面经过防腐蚀处理，承重能力为5公斤，移动范围为100mm x 100mm。控制系统集成运动模块和传感器，确保测量过程的稳定性。
在性能方面，ContourX-500的垂直测量范围可达5mm，横向分辨率取决于物镜选择，最高可达0.35μm。测量速度因扫描模式和区域大小而异，通常完成一次测量需几分钟。重复性测试显示，在标准环境下，测量结果的一致性较好。
参数表：
型号：ContourX-500
测量技术：白光干涉
垂直分辨率：0.1nm
横向分辨率：0.35μm至5μm（依物镜而定）
最大扫描范围：5mm x 5mm x 5mm
样品台尺寸：200mm x 200mm
重量：35kg
电源要求：100-240V AC, 50/60Hz
该产品主要用于表面粗糙度分析、薄膜厚度测量、微结构尺寸检测和磨损评估。在半导体、光学制造、汽车零部件和材料科研等领域有较多应用。
使用前需确认设备水平放置，连接电源和计算机。开机后启动控制软件，选择测量模式并设置参数。将样品固定在台上，调整焦距和光路，开始扫描。测量完成后，软件可生成三维图像和数据分析报告。日常维护包括清洁光学部件和检查机械结构。
ContourX-500的设计注重实用性和适应性，适合多种工业环境。
布鲁克轮廓仪：材料表面形貌分析工具