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探索布鲁克轮廓仪表面测量应用布鲁克ContourX-500三维光学轮廓仪通过白光干涉技术，为表面测量提供了一种解决方案。其设计兼顾了实验室和工业场景的需求，可用于多种材料的形貌表征。
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探索布鲁克轮廓仪表面测量应用
布鲁克ContourX-500三维光学轮廓仪通过白光干涉技术，为表面测量提供了一种解决方案。其设计兼顾了实验室和工业场景的需求，可用于多种材料的形貌表征。
产品采用模块化设计，包括照明系统、干涉物镜、载物台和检测单元。照明系统使用长寿命LED光源，波长范围覆盖可见光区域。干涉物镜支持5种可选放大倍率，从2.5倍到50倍，用户可根据样品特征灵活选择。载物台由不锈钢和铝合金构成，带有真空吸附孔，可固定不规则样品。检测单元配备高灵敏度CCD传感器，捕捉干涉条纹。
性能上，ContourX-500能处理从镜面到漫反射表面的测量，垂直重复性在标准条件下表现稳定。扫描模式包括单次拍摄和垂直扫描，适用于不同高度变化的样品。系统噪声水平较低，有助于提升测量数据的可靠性。
参数表：
型号：ContourX-500
光源类型：LED白光
物镜倍率：2.5X, 5X, 10X, 20X, 50X
传感器分辨率：1024 x 1024像素
最大采样率：120Hz
工作距离：10mm至45mm（依物镜而定）
尺寸：450mm x 450mm x 500mm
操作温度：15°C至30°C
应用方面，该仪器可用于微电子元件的高度测量、光学镜面的面形分析、材料表面的缺陷检测，以及生物医学材料的拓扑结构研究。在质量控制和生产过程中，它能提供表面参数的定量数据。
使用时，先安装合适的物镜，放置样品并调整位置。通过软件选择测量区域和扫描参数，校准参考光路后开始采集。数据经软件处理，可输出高度图、截面曲线和统计结果。定期校准和光学清洁有助于保持性能。
ContourX-500的功能设计面向实际测量任务，为用户提供了一种表面分析工具。
探索布鲁克轮廓仪表面测量应用