Sensofar S neox：测量安全与效率革命

Sensofar S neox：测量安全与效率革命

在精密加工与新材料研发中，接触式探针易损伤软性材料，而激光共焦技术则受限于高反射率表面。Sensofar S neox通过非接触式光学测量与抗干扰设计，为敏感材料检测提供了可靠方案。

非接触式测量原理

S neox采用共聚焦显微技术与白光干涉技术，通过光学剖面重构表面形貌，无需物理接触样品。在测量水凝胶人工角膜时，这一特性避免了传统探针导致的0.5μm形变误差，确保了湿润状态下表面纹理的真实性。其共聚焦模式通过针孔滤波排除离焦光干扰，空间采样精度可达0.01μm；白光干涉模式则利用零光程差原理，在任意放大倍数下保持纳米级纵向分辨率。

抗干扰设计：从实验室到车间

针对工业环境中的振动与温度波动，S neox搭载实时环境补偿算法（REC），可在振动幅度>100nm的条件下稳定输出数据。在某汽车零部件厂的实际测试中，设备在未使用气浮隔振台的情况下，仍能完成Ra=0.8μm的精密模具表面测量，重复性误差。此外，其LED光源系统不受电磁干扰影响，适用于电力设备检测等强磁场场景。

参数与型号扩展性

基础款S neox的测量速度为180fps，支持500万像素CMOS传感器；五轴款可升级至1000万像素传感器，将典型图像获取时间缩短至1.5秒。用户可根据需求选配功能模块：例如，在测量高温合金叶片时，加装高温原位测量舱（最高800℃）可实时追踪氧化层生长过程；在检测微电子器件时，启用微显示共聚焦技术可实现200×物镜下的亚微米级聚焦。

应用案例与操作技巧

某生物材料企业曾利用S neox优化3D打印钛合金支架的孔隙结构。研究人员通过共聚焦动态扫描发现，孔径误差与成骨细胞黏附率呈负相关，据此将孔径标准从100±10μm调整至100±5μm，使细胞增殖率提升30%。操作时，建议优先使用彩色摄像头进行样品预览，通过红、绿、蓝三色通道对比快速定位测量区域；在分析粗糙表面时，可启用多焦面叠加模式的“智能降噪"功能，将信噪比提高至40dB以上。