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产品简介
Sensofar LIN：入门级三维测量轮廓仪新选Sensofar经济型三维共聚焦白光干涉轮廓仪是一款集成了多种优良光学技术的高精度测量设备。其核心功能包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉，能够实现纳米级精度的表面形貌测量。设备具备高分辨率、快速扫描和大范围测量能力，适用于多种材质和结构的表面检测。
产品分类
在三维表面形貌测量领域，Sensofar LIN系列白光干涉轮廓仪提供了一种经济实用的入门选择。该产品将白光干涉技术（VSI）与共聚焦技术相结合，旨在为寻求从二维测量迈向三维精细测量的用户提供一个功能齐全、操作简便的平台。
产品细节上，LIN系列采用了模块化设计。其核心是一套集成化的光学引擎，将光源、干涉物镜、精密扫描系统和摄像头整合于一体。这种设计有助于保持设备的稳定性和测量的重复性。设备外观紧凑，能够较好地融入实验室或产线环境。
其性能特点在于提供了非接触、无损的测量方式。白光干涉技术对光滑和轻微粗糙的表面有较好的适应性，能快速获取表面的三维形貌信息。通过切换物镜，用户可以在测量范围和分辨率之间取得平衡，以满足不同应用场景的需求。
在材料适用性方面，LIN系列可用于测量多种表面的样品，包括硅片、玻璃、金属、塑料以及涂层等。例如，在半导体后段工艺中，可用于测量焊球的高度和共面性；在材料科学中，可用于分析薄膜表面的粗糙度。
以下是LIN系列某型号的示例参数（具体需以数据为准）：
技术原理: 白光干涉（VSI）与共聚焦
物镜配置: 可选配多种倍率，如10x, 20x, 50x
垂直分辨率: 亚纳米级
水平分辨率: 可达0.5 μm
扫描范围（Z轴）: 数毫米
平台: 手动或电动平台可选
使用说明强调用户友好性。Sensofar的SensoMAP软件提供了直观的图形化界面，引导用户完成从样品对焦、参数设置到扫描测量的全过程。软件内置了丰富的分析工具，可一键生成符合国际标准的二维、三维参数报告。
LIN系列的用途广泛，适用于研发初期的材料表征、生产过程中的质量抽检以及学术研究中的数据分析，是步入三维微观测量领域的一个考虑方向。