Sensofar 光学轮廓仪：应对复杂测量需求

产品简介

Sensofar 光学轮廓仪：应对复杂测量需求
S neox 凭借灵活的配置与稳定的性能，能应对多种复杂测量场景，为特殊样品与环境下的检测提供支持。

产品型号：S neox

更新时间：2025-10-13

厂商性质：代理商

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Sensofar 光学轮廓仪：应对复杂测量需求

S neox 凭借灵活的配置与稳定的性能，能应对多种复杂测量场景，为特殊样品与环境下的检测提供支持。在高温样品测量场景中，设备可搭配高温样品台附件，该样品台采用陶瓷加热元件，加热温度范围为室温至 300℃，温度控制精度 ±1℃，加热过程中样品台表面温度均匀性误差≤2℃，适用于金属材料高温形变、高分子材料热膨胀系数测量等需求。高温样品台与设备主体采用隔热设计，避免高温传导至光学系统，保障测量精度。

Sensofar 光学轮廓仪：应对复杂测量需求

低温环境测量方面，低温样品舱附件能将样品温度控制在 -40℃ 至室温范围，舱体采用双层真空设计，有效隔绝外部热量传入，内部配备温度传感器与制冷系统，温度调节响应速度快，从室温降至 -40℃ 仅需 30 分钟。该附件适用于冷冻生物样品、低温超导材料等特殊样品的表面形貌检测，如检测冷冻细胞的三维结构，避免常温下细胞变形影响测量结果。

在强电磁干扰环境中，S neox 可通过电磁屏蔽罩附件提升抗干扰能力，屏蔽罩采用多层金属屏蔽结构，对 10kHz-1GHz 频率范围内的电磁干扰衰减量达 60dB 以上，确保设备在电子厂、实验室等存在强电磁辐射的环境中仍能稳定工作。针对透明样品测量，设备配备偏振光模块，通过调节偏振方向与强度，增强透明样品表面的对比度，清晰呈现样品的微观结构，如测量玻璃表面的微裂纹与划痕，解决透明样品成像困难的问题。

Sensofar 光学轮廓仪：应对复杂测量需求

上一个：S neoxSensofar 光学轮廓仪：耐用性与精度的保障