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PRODUCTS CNTER了解ZYGO 3D光学轮廓仪ZeGage Pro是ZYGO公司推出的一款3D光学轮廓仪,主要用于对表面形貌进行非接触式的测量和分析。它基于相干扫描干涉技术,能够提供表面的三维形貌数据。这款仪器适用于实验室和工业环境,为研发和质量控制提供了一种表面测量的方式。
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ZeGage Pro是ZYGO公司推出的一款3D光学轮廓仪,主要用于对表面形貌进行非接触式的测量和分析。它基于相干扫描干涉技术,能够提供表面的三维形貌数据。这款仪器适用于实验室和工业环境,为研发和质量控制提供了一种表面测量的方式。
在产品设计上,ZeGage Pro采用了一体化的结构,将光学系统、电子控制系统和内置计算机集成在一个紧凑的机身内。这种设计减少了外部环境振动和气流对测量结果的干扰,同时使得仪器便于移动和安装。仪器的外壳主要采用金属材料,保证了结构的稳固性,内部光学元件则安装在经过设计的隔振平台上,以维持光学路径的稳定性。
ZeGage Pro的用途广泛,可用于测量各种材料和表面的粗糙度、台阶高度、形状轮廓、体积等参数。它适用于半导体、光学薄膜、材料科学、精密制造等多个领域。例如,在光学元件生产中,可用于检测透镜的表面质量;在半导体行业,可用于测量晶圆的翘曲度和薄膜厚度。
仪器的操作通过随机附带的MetroPro软件完成。该软件提供了从仪器控制、数据采集到结果分析的全套功能。用户可以通过软件选择测量模式、设置扫描参数、实时预览样品,并对采集到的三维数据进行多种分析,生成符合国际标准的测量报告。
参数表示例:
项目 | 规格 |
---|---|
型号 | ZeGage Pro (根据配置有多种型号) |
测量技术 | 相干扫描干涉术 |
垂直测量范围 | 可达数毫米(取决于物镜) |
垂直分辨率 | 可达亚纳米级 |
视野 | 取决于物镜倍数(如0.5x至50x) |
平台尺寸 | 提供多种规格的样品台选项 |
数据接口 | 千兆以太网 |
软件 | MetroPro |
使用ZeGage Pro时,需要将仪器放置在稳固的工作台上,并连接电源和网络。开机后,通过计算机上的软件进行操作。放置样品时,需确保样品表面清洁,并平稳放置在样品台上。根据样品的反射率和表面特性,在软件中选择合适的测量模式和参数,即可开始自动测量。测量完成后,数据会自动传输至软件进行分析。