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布鲁克光学轮廓仪参数规格与型号适配指南

产品简介

布鲁克光学轮廓仪参数规格与型号适配指南
布鲁克ContourX-200三维光学轮廓仪的长期稳定性与测量精度,与其材料选择及加工工艺密不可分。从核心部件到外壳设计,每一处细节均围绕“抗干扰、耐老化、易维护"展开。

产品型号:ContourX-200
更新时间:2025-10-13
厂商性质:代理商
访问量:32
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布鲁克光学轮廓仪参数规格与型号适配指南

布鲁克ContourX-200三维光学轮廓仪提供标准化参数配置,同时支持部分模块选配,以满足不同用户的多样化需求。以下为核心参数概览及型号适配建议:
基础参数表
  • 尺寸(长×宽×高):450mm×350mm×400mm
  • 重量:≤25kg
  • 垂直测量范围:100μm(标准模式)/1mm(扩展模式)
  • 垂直分辨率:≤0.5nm(典型值)
  • 横向分辨率:0.2-1.5μm(随物镜倍率变化)
  • 测量速度:单帧50ms-2s(取决于扫描范围与分辨率)
  • 光源:宽谱白光LED(400-700nm)
  • 接口:USB 3.0、千兆以太网、触发输入/输出
  • 电源:AC 220V/50Hz,≤500W
型号区分
目前该系列提供两款主流型号:

ContourX-200-Basic(基础型):标配5×-50×物镜,支持100μm垂直测量范围,适合半导体晶圆、光学平面玻璃等常规样品的表面形貌测量。
  • ContourX-200-Advanced(增强型):增加100×物镜与1mm扩展测量模块,支持更深台阶样品(如MEMS沟槽、3D打印结构),并可选配自动聚焦与三维拼接功能。
选配功能
用户可根据需求选装
  • 高速扫描模块:将单帧扫描时间缩短至20ms,适用于批量样品的快速检测;
  • 真空适配套件:配合真空环境测试,需配置真空腔与密封接口;
  • 多样品台:支持最多4个样品预定位,提升产线检测效率。
选型建议
若用户主要测量芯片表面、光学镜头等常规样品(台阶高度<100μm),基础型已能满足需求;若涉及MEMS器件(沟槽深度>200μm)或3D打印结构,增强型的1mm扩展模式与100×物镜更具适配性。对于需要高速检测的产线场景,建议选装高速扫描模块,并提前与技术团队确认样品兼容性。
清晰的参数与型号划分,帮助用户快速匹配自身需求,避免资源浪费或性能不足,是设备实用性的重要体现。布鲁克光学轮廓仪参数规格与型号适配指南


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