Sensofar S wide：难测样品也能轻松应对
一、透明样品：不被反光干扰的检测方案
在光学行业检测透明样品（如大尺寸玻璃盖板、光学镜片、透明薄膜）时，传统设备常因表面反光导致数据失真，而 Sensofar S wide 通过专属光学设计，能轻松应对这类难题，无需额外加装复杂附件。
比如检测一块 1 米长的透明玻璃盖板时，传统设备可能需要反复调整角度避开反光，仍难以完整捕捉表面划痕；而 S wide 搭载的 “透明样品优化系统"，会自动调节光源角度与光谱范围，削弱表面反光的同时，增强样品内部缺陷（如气泡、杂质）的成像效果。一次扫描就能清晰呈现玻璃表面的细微划痕（甚至 0.5μm 级别的痕迹）与内部杂质分布，不用分区域多次检测，大幅减少操作时间。
对于多层透明薄膜样品，S wide 还能通过 “分层成像技术"，区分不同薄膜层的表面状态。比如检测三层复合光学薄膜时，设备可分别呈现每层薄膜的平整度与粗糙度数据，帮助判断各层工艺是否达标，避免传统设备 “多层数据混叠" 的问题，为薄膜生产工艺优化提供更精准的参考。
二、柔性样品：避免变形的非接触测量
检测柔性样品（如大尺寸柔性电路板、塑料薄膜、金属箔片）时，最大的顾虑是样品因夹持或接触受力变形，影响检测结果。S wide 的非接触测量方式与样品台设计，从源头解决了这一痛点。
以检测 1.2 米长的柔性电路板为例，传统设备需要用夹具固定样品，容易导致电路板边缘变形，进而影响表面元件高度测量的准确性；而 S wide 的样品台采用 “柔性支撑设计"，通过均匀分布的吸附点轻轻固定样品，既避免样品移位，又不会产生局部压力导致变形。搭配非接触式光学测量，无需触碰样品表面，就能完整扫描电路板的表面形貌，精准记录元件高度、焊点状态等数据，为柔性电子元件的质量检测提供可靠支持。
检测塑料薄膜时，S wide 还能根据薄膜厚度自动调整扫描参数，即使薄膜存在轻微褶皱，设备的 “褶皱补偿算法" 也能识别并修正数据偏差，确保最终结果能反映薄膜的真实表面状态，不用反复展平样品或筛选 “平整区域" 检测。
三、高反光样品：告别 “光斑干扰" 的困扰
金属板材、镀膜零件等高反光样品，在检测时容易因光线反射形成光斑，导致局部数据缺失。S wide 通过优化的光学系统与算法，能有效抑制光斑干扰，完整获取样品表面数据。
比如检测大尺寸不锈钢板材的表面粗糙度时，传统设备扫描后常出现局部光斑区域数据空白，需要手动补扫；而 S wide 的 “多角度光源系统" 会从不同方向投射光线，减少单一角度反光形成的光斑，同时 “光斑修复算法" 会对局部反光区域的数据进行智能补全，一次扫描就能获得完整的表面粗糙度数据，无需后续补扫或手动修正。
对于镀膜金属零件（如汽车轮毂镀膜件），S wide 还能区分 “镀膜层表面" 与 “基材表面" 的状态，精准检测镀膜层的厚度均匀性与表面缺陷，避免传统设备 “镀膜层与基材数据混淆" 的问题，为镀膜工艺质量把控提供有效支持。
无论是透明、柔性还是高反光样品，Sensofar S wide 都能通过针对性的设计与技术优化，解决传统测量中的痛点，无需用户额外学习复杂操作或搭配专用附件，就能轻松完成各类难测样品的检测，成为覆盖多类型样品的实用测量工具。
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