Sensofar S neox：温控环境下的样品测量

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Sensofar S neox：温控环境下的样品测量
研究不同温度条件下的样品特性，需要测量设备具备环境模拟能力，S neox的温控扩展设计恰好满足这一需求。

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更新时间：2026-01-23

厂商性质：代理商

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Sensofar S neox：温控环境下的样品测量

Sensofar S neox：温控环境下的样品测量

研究不同温度条件下的样品特性，需要测量设备具备环境模拟能力，S neox的温控扩展设计恰好满足这一需求。

产品细节上，机身侧面预留专用接口，可快速连接低温样品台与加热样品台，低温范围覆盖 - 196℃至室温，加热可从室温升至 300℃，能模拟环境与常规温度条件。接口采用快速插拔设计，更换温控模块时无需专业工具，配合对应的样品夹具，可固定不同材质的温敏样品。软件支持温度参数预设与实时监控，触控屏上能直观查看当前温度与测量进度。

性能方面，温控模块与测量系统协同工作，在温度下仍能保持测量稳定性。例如在 - 196℃的低温环境中测量生物组织冷冻形态，共聚焦模式能清晰呈现细胞结构；300℃高温下检测金属材料热变形，干涉模式可捕捉微小的面形变化。设备的闭环控制系统会实时调整参数，减少温度变化对测量精度的影响，多次测量偏差保持在 3% 以内。

用材上，温控样品台采用耐高低温合金材质，与样品接触部分经过防腐蚀处理。连接线缆选用耐高温、耐低温的特种线材，确保环境下的信号传输稳定。

温控测量参数简表