Sensofar S neox共聚焦白光干涉光学轮廓仪构建了完善的型号体系，从基础通用到定制，从实验室到生产线，均有适配型号。整个系列以技术融合为核心，不同型号在配置、功能、适配场景上各有侧重，形成从常规检测到精密分析的完整解决方案。每个型号均保持共聚焦、白光干涉双技术融合的核心优势，搭配 SensoSCAN 软件系统，确保基础测量性能一致，同时通过硬件配置差异满足多元需求，用户可根据自身场景选择适合的型号。
S neox 3 作为经济型型号，聚焦常规表面测量需求，配备 20× 共聚焦物镜，检测范围 5μm-3mm，横向分辨率与纵向分辨率能满足塑料零件粗糙度筛查、金属表面划痕检测等基础场景。机身尺寸 600×500×750mm，结构紧凑，适合中小型实验室或企业的桌面布局。
硬件配置上，它搭载 500 万像素 CMOS 相机，数据传输速率 180fps，单次扫描时间约 3 秒，能平衡检测效率与成本。XY 平台行程 125×75mm，承载重量适中，防护等级 IP54，可适应一般实验室环境。软件方面，支持基础 ISO 参数计算与报告导出，内置 10 余种通用检测模板。
S neox 3 的优势在于性价比，维护成本较低，适合预算有限且以常规检测为主的用户，如小型制造企业的进料检验、高校基础科研等场景。
S neox 5 定位多功能型，在基础款基础上升级核心配置，标配 150× 高数值孔径（NA 0.95）物镜，横向分辨率达 0.10μm，纵向分辨率进入 0.1nm 量级，支持多焦面叠加技术，可测量 86° 的陡峭斜面，适合精密表面分析。
硬件新增五轴旋转台，A 轴可 360° 无限旋转，定位重复性 10 角秒；B 轴倾斜范围 - 30° 至 110°，分辨率 0.5 角秒，能实现轴对称样品的全方测量。搭载 AI 路径规划模块，检测效率提升 30%，支持多区域连续扫描与自动对焦，适配半导体金线检测、光学镜片面型分析等场景。
软件升级为完整版 SensoMAP，增加自动缺陷检测、多尺度视场融合功能，内置 30 余种行业专用模板，支持与 SEM、AFM 等仪器的数据对接。S neox 5 适合对精度与功能有较高要求的用户，如精密制造企业的过程质检、科研机构的微观结构研究。
S neox Pro 作为全套配置旗舰型号，集合了系列所有功能，配备 500W 高功率 LED 光源与双通道信号融合模块，能应对复杂样品的多维度测量，如透明薄膜双面检测、多层材料形貌分析等。
硬件支持最大 1000 万像素传感器升级，图像获取时间缩短至 1.5 秒，配合高速 XY 平台，可满足工业 4.0 生产线的高速检测需求。支持多种扩展模块，如高温原位测量舱（最高 800℃）、无菌操作舱等，适配航空发动机叶片检测、医疗植入体分析等特殊场景。
软件搭载 AI 分析插件与云端协同功能，可实现表面纹理自动分类与多设备数据共享，符合 SEMI、ISO 13485 等多项行业标准，检测报告可直接用于国际认证。S neox Pro 适合大型企业的生产线、国家ji科研实验室等对性能与扩展性有ji致需求的场景。
专为大尺寸样品设计的 S neox Grand Format，XY 移动范围达 600×600mm，可承载最大 300×300mm、高度 350mm 的样品，经认证适用于半导体、显示器、印刷电路板行业的大型面板检测。
采用 0.65× 迈克尔逊物镜与高性能 XY 平台组合，能快速测量大尺寸样品的平面度，兼顾横向与纵向分辨率。支持自动化生产线集成，配合 “样品阵列" 功能，可完成多片面板的批量检测，软件内置面板检测专用算法，自动计算平整度、划痕数量等参数。
不同型号的 S neox 共聚焦白光干涉光学轮廓仪，通过精准的定位与丰富的配置，为各行业用户提供了适配的测量解决方案。
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