Sensofar 3D光学轮廓仪的光学薄膜检测

产品简介

Sensofar 3D光学轮廓仪的光学薄膜检测：Sensofar S neox可对光学薄膜的厚度、表面缺陷及应力形变进行纳米级测量，确保其表面质量与膜厚均匀性，保障光学系统性能。

产品型号：

更新时间：2025-11-27

厂商性质：代理商

访问量：19

产品咨询 17701039158

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

Sensofar 3D光学轮廓仪的光学薄膜检测

Sensofar S neox 3D光学轮廓仪在光学薄膜检测中具有重要应用。光学薄膜是现代光学系统的关键组成部分，其表面质量直接影响光学性能。该仪器为光学薄膜的检测提供了有效的技术手段。

在薄膜厚度测量方面，仪器可以测量薄膜表面的台阶高度，从而得到膜厚信息。对于多层膜结构，可以通过选择性刻蚀制备台阶，测量各层厚度。仪器的垂直分辨率可以达到亚纳米级，满足光学薄膜的测量要求，确保薄膜厚度的精确控制。

表面缺陷检测是另一个重要应用。仪器可以检测薄膜表面的点缺陷、划痕等瑕疵，统计缺陷的密度和分布。对于激光损伤阈值要求高的薄膜，表面微缺陷的检测尤为重要。它的大面积扫描功能可以实现全场缺陷检测，提高检测效率。

薄膜应力分析也可以通过表面形貌测量间接实现。仪器可以测量薄膜沉积前后的基片形貌变化，通过翘曲度计算薄膜应力。这种方法为优化沉积工艺提供了重要反馈。对于大面积薄膜，可以测量应力的分布情况，确保薄膜均匀性。

在光学性能预测方面，表面粗糙度与散射损耗直接相关。仪器可以精确测量薄膜表面的微观起伏，评估表面质量对光学性能的影响。对于高反射膜、增透膜等光学薄膜，表面粗糙度控制是保证光学性能的关键因素。

值得一提的是，该仪器可以测量薄膜断面的形貌，分析薄膜的截面结构。结合倾斜测量功能，可以获得更完整的薄膜三维信息。这些数据对理解薄膜生长机理、优化制备工艺具有指导意义，有助于提高光学薄膜的性能和质量。

Sensofar 3D光学轮廓仪的光学薄膜检测

上一个：Sensofar 3D光学轮廓仪的汽车检测

返回列表

在线留言