ZYGO 测量模式解析

产品简介

ZYGO 测量模式解析
ZYGO Nexview NX2 白光干涉仪集成了多种测量模式，以适应不同表面特性的测量需求。了解这些测量模式的工作原理、适用场景及其特点，有助于用户根据具体样品和测量目标选择最合适的测量方式，从而获得可靠的测量结果。

产品型号：Nexview NX2

更新时间：2026-01-15

厂商性质：代理商

访问量：8

产品咨询 17701039158

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

zygo

ZYGO光学轮廓仪 Zygo激光干涉仪

查看全部产品

光学显微镜颗粒度分析应用

合成钻石性能检测：S neox光学干涉技术的应用

软件焕新！Sensofar 四大核心工具升级，让科研与检测效率翻倍

泽攸探针台微纳世界的“精密手术刀”与“科学探照灯”

详细介绍在线留言

ZYGO 测量模式解析

ZYGO Nexview NX2 白光干涉仪集成了多种测量模式，以适应不同表面特性的测量需求。了解这些测量模式的工作原理、适用场景及其特点，有助于用户根据具体样品和测量目标选择最合适的测量方式，从而获得可靠的测量结果。

设备提供的测量模式包括垂直扫描干涉模式、相移干涉模式等，每种模式都有其特定的技术特点和应用范围。

垂直扫描干涉模式是NX2的基础测量模式之一。该模式利用白光光源的短相干特性，通过垂直方向扫描样品或物镜，记录每个像素点干涉信号强度的变化。当样品表面某点与参考镜的光程差为零时，该点处的干涉条纹对比度达到zui

大。通过检测每个像素点对比度峰值对应的扫描位置，可以确定该点的表面高度。VSI模式特别适合测量具有较大高度变化范围、中等粗糙度的表面，其垂直测量范围可达数毫米，垂直分辨率通常在纳米级别。这种模式在测量工程表面、加工零件、生物组织等方面有较好的适用性。

相移干涉模式是另一种重要的测量模式。与VSI模式不同，PSI模式使用单色光或窄带光作为光源，通过精确控制参考镜的位置，引入已知的相位变化，从而解算出每个像素点的相对相位信息。由于相位计算具有较高的精度，PSI模式在垂直分辨率方面通常优于VSI模式，可以达到亚纳米甚至更高的水平。但相移干涉的测量范围受相位解包裹能力的限制，一般只能测量高度变化小于半个波长的相对光滑表面。因此，PSI模式特别适合测量超光滑光学表面、精密抛光晶圆、高品质薄膜等对垂直分辨率要求ji高的应用。

在某些应用场景中，可能需要结合使用多种测量模式。例如，对于同时包含光滑区域和粗糙区域的样品，可以在不同区域分别使用PSI模式和VSI模式进行测量，然后通过软件将测量结果融合，以获得整个表面的完整形貌信息。NX2的软件平台通常支持这种多模式测量和数据融合功能，为用户提供了更灵活的测量策略选择。

除了基本的干涉测量模式外，NX2还可能支持共聚焦成像模式。共聚焦模式通过空间滤波技术，可以显著提高图像的横向分辨率和对比度，特别适合测量具有陡峭侧壁或高深宽比的结构。在共聚焦模式下，系统通过垂直扫描获取一系列光学切片图像，然后通过分析每个像素点的聚焦清晰度来确定其高度位置。虽然共聚焦模式的垂直分辨率一般不及干涉模式，但其在测量复杂三维结构方面具有独特优势。

选择测量模式时，需要考虑多个因素。首先是样品表面的特性，包括粗糙度范围、反射率、材料透明度等。对于光滑表面，PSI模式可能更为合适；对于粗糙表面，VSI模式可能获得更好的测量结果。其次是测量目标，如果主要关注纳米级的表面起伏，应优先考虑高分辨率模式；如果需要测量毫米级的高度变化，则需要选择大测量范围的模式。此外，测量速度、环境稳定性要求、样品制备复杂度等也是选择测量模式时需要考虑的因素。

在实际操作中，NX2的软件通常提供测量模式选择的指导。用户可以通过预览功能观察样品表面的基本情况，软件会根据图像特征推荐合适的测量模式和起始参数。对于有经验的用户，也可以根据样品特性和测量需求，手动调整测量模式和相关参数。合理的模式选择是获得高质量测量数据的第yi步，需要结合理论知识和实践经验进行综合考虑。

不同测量模式的数据处理方式也有所不同。VSI模式主要处理干涉信号的包络信息，PSI模式则需要处理相位信息。在数据处理过程中，可能需要应用不同的滤波算法、去噪方法和相位解包裹技术。NX2的软件集成了针对各种测量模式的专用数据处理模块，能够自动完成从原始数据到三维形貌的重建过程。用户可以根据需要调整数据处理参数，以优化最终结果的质量。

测量模式的持续发展是光学测量技术进步的重要体现。随着新型光学设计、先jin探测技术和智能算法的发展，测量模式在不断丰富和完善。多模式融合测量、自适应模式选择、智能参数优化等技术的发展，使得现代光学测量设备能够更智能地适应多样化的测量需求。NX2作为这个领域的代表性产品之一，其测量模式的设计和实现反映了当前技术发展的水平。

对于使用NX2的用户来说，深入理解各种测量模式的特点和适用范围，有助于充分发挥设备的测量能力。通过合理选择测量模式，优化测量参数，可以针对不同类型的样品和测量任务，获得满足要求的测量数据。这种能力的掌握需要通过系统的培训、实践经验的积累和持续的学习来实现。

总之，ZYGO Nexview NX2提供的多种测量模式为用户应对不同的表面测量任务提供了灵活选择。从垂直扫描干涉到相移干涉，从单模式测量到多模式融合，设备通过技术集成和功能创新，尝试在测量范围、分辨率、速度和适用性之间寻求平衡。对于从事表面测量工作的技术人员和研究人员，掌握这些测量模式的原理和应用，是有效使用设备、获得可靠数据的重要基础。

ZYGO 测量模式解析

上一个：Nexview NX2ZYGO 在晶圆制程中的应用