ZYGO ZeGage Pro数据分析功能详述

• 倾斜校正（调平）：去除因样品放置倾斜或基准面不平引入的整体倾斜。软件提供平面拟合（如最小二乘法）或三点定面等方式，计算并减去参考平面。

  
  

• 形状去除：如果样品本身具有已知的曲率（如球面、柱面），可以拟合并去除该基础形状，从而更清晰地观察局部粗糙度或缺陷。

  
  

• 滤波处理：应用数字滤波器分离表面不同空间频率的成分或去除噪声。

  
  

• 高斯滤波：遵循ISO 16610等标准，用于分离粗糙度、波纹度和形状误差成分。用户可设置截止波长，选择分析特定波长范围内的表面特征。

  
  

• 中值滤波/去噪：有效去除图像中孤立的异常噪声点，平滑数据。

  
  

• 无效数据修补：对于因表面反射率过低、阴影或遮挡导致信号丢失的区域（数据空洞），可使用邻近数据插值算法进行修补，获得完整的形貌图。

  
  

• 伪彩色高程图：用不同颜色表示不同高度，是最直观的显示方式。

  
  

• 阴影渲染图：模拟光源照射效果，增强三维立体感，突出纹理和细节。

  
  

• 等高线图：显示表面等高线，有助于判断坡度变化和整体形状。

  
  

• 任意剖面视图：允许用户在任何位置和方向“剖切"三维数据，观察内部截面形貌。

  
  

• 轮廓线提取：在三维图上任意绘制线段，软件即可生成该路径上的二维高度轮廓曲线。

  
  

• 轮廓参数测量：直接在轮廓曲线上测量水平距离、垂直高度（台阶高度）、角度、曲率半径等几何尺寸。

  
  

• 线粗糙度参数计算：按照ISO 4287等线粗糙度标准，计算轮廓算术平均偏差Ra、轮廓最大高度Rz、轮廓单元平均宽度RSm等参数。这对于需要与传统接触式轮廓仪数据进行对比的场合尤其有用。

  
  

• 高度参数：描述表面在垂直方向上的偏差统计特征。

  
  

• Sa：算术平均高度。zui 常用的三维粗糙度参数，是表面各点与平均面高度偏差绝对值的算术平均。

  
  

• Sq：均方根高度。

  
  

• Sz：表面最大高度（最高峰与最di 谷的差值）。

  
  

• Ssk：偏度。描述高度分布的不对称性。

  
  

• Sku：峰度。描述高度分布的尖锐程度。

  
  

• 空间参数：描述表面纹理的横向分布特性。

  
  

• Sal：自相关长度。描述表面纹理特征在空间上的平均长度。

  
  

• Str：纹理纵横比。描述纹理的方向性（各向同性或各向异性）。

  
  

• 功能参数：模拟表面在特定功能应用中的行为。

  
  

• 表面支承面积率曲线：计算在不同深度截面上，材料面积与投影面积的比值。对于研究摩擦、磨损、密封和润滑性能非常重要。

  
  

• Sk, Spk, Svk：核心粗糙度深度、峰值高度、谷值深度，将表面分为不同的功能区域进行分析。

  
  

• 点、线、面测量：直接测量任意两点间的三维距离、空间角度、直线长度、平面面积和倾斜度。

  
  

• 体积与面积测量：计算特定区域相对于某一基准平面的材料体积（如凹坑容积、颗粒体积、磨损量）和真实表面积。

  
  

• 台阶高度/薄膜厚度测量：通过定义上、下两个参考平面，自动计算其垂直距离，这是测量薄膜厚度或刻蚀深度的常用方法。

  
  

• 多区域/多特征统计：对同一表面的多个相同特征（如多个焊点、颗粒）进行测量，自动计算平均值、标准差、最大值、最小值等统计量。

  
  

• 数据分布分析：生成表面高度值的概率分布直方图。

  
  

• 批处理与自动报告：用户可以创建测量“配方"，对多个样品或同一样品的多个位置进行自动顺序测量、分析和报告生成，大大提高重复性检测的效率。

  
  

ZYGO ZeGage Pro数据分析功能详述