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Sensofar 白光干涉仪测量技术原理探讨 Sensofar S lynx轮廓仪的功能多样性,建立在共聚焦和白光垂直扫描干涉(VSI)这两种核心测量技术之上。理解这两种技术的基本原理和适用条件,有助于用户在实际应用中选择合适的模式。
SensofarS lynx2:光学轮廓仪平台简介 Sensofar S lynx系列是设计用于工业与研发环境的三维光学轮廓仪平台。该平台将共聚焦成像和白光垂直扫描干涉(VSI)等光学测量技术集成于一体,旨在提供一种非接触式的表面三维形貌测量方案。其设计思路侧重于测量的效率和操作的流畅性,适用于生产质量控制、实验室研发等场合。
Sensofar数据处理:从采集到分析的全流程 Sensofar S neox 的测量价值不仅在于数据采集,更通过完善的软件系统实现数据处理、分析与追溯的全流程管理。
Sensofar工业应用:生产线的质量检测助手 Sensofar S neox 凭借高效测量能力与环境适配性,成为工业生产线的实用检测设备,覆盖电子、汽车、模具等多个领域。
Sensofar硬件拆解:稳定测量的结构支撑 Sensofar S neox 的硬件系统由光学模块、机械结构、传感组件三部分构成,各模块协同保障测量精度与稳定性。
Sensofar多模式切换:全表面测量的实现路径 Sensofar S neox 通过共聚焦、干涉、多焦面叠加技术的无缝切换,实现了从亚纳米级光滑表面到毫米级粗糙结构的全范围测量覆盖。