ZYGO表面测量的光学方法 表面形貌测量是了解材料特性的一个方面。在众多测量技术中，光学方法因其非接触特性而受到关注。ZYGO Nexview NX2采用的白光干涉技术，是光学测量方法的一种。

ZYGO Nexview NX2光学干涉测量 在表面测量领域，光学方法提供了观察样品微观形貌的一种途径。ZYGO公司的Nexview NX2设备采用白光干涉技术，能够在非接触条件下获取样品表面的三维信息。

ZYGO 在微电子封装翘曲中的关键作用 微电子封装技术不断向三维集成、高密度互连方向发展，封装体的翘曲（Warpage）与焊料凸块/铜柱的共面性（Coplanarity）成为影响封装可靠性、成品率及最终组装良率的关键因素。

ZYGO 在涂层附着力与失效分析中的作用 涂层的附着力是评价其防护、装饰或功能性能的关键指标。涂层失效往往始于界面或涂层内部的缺陷。

ZYGO 实验室比对与能力验证 在建立和维持一个可靠的表面计量实验室过程中，定期进行实验室间比对（Inter-laboratory Comparison, ILC）或能力验证（Proficiency Testing, PT）是评估测量一致性、发现系统偏差、确保数据国际可比性的核心手段。

ZYGO 未来升级与扩展可能性 投资一台高质量的测量设备，不仅关注其当前性能，也需考量其适应未来技术发展和应用需求变化的能力。ZYGO ZeGage Pro光学轮廓仪平台通常设计有一定的模块化和可扩展性，为用户预留了通过升级硬件模块、更新软件系统来提升功能、拓展应用边界的可能性，从而保护长期投资价值。