ZYGO光学元件面形检测 光学元件的面形精度影响光学系统的成像质量。对面形误差进行检测，是光学制造中的重要环节。

ZYGO半导体工艺中的测量 半导体制造对工艺控制有严格要求，表面测量是工艺监控的重要环节。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪在半导体工艺中可用于测量晶圆表面的薄膜厚度、图形结构、缺陷等特征，为工艺开发和质量管理提供测量数据。该设备在半导体行业有应用案例。

ZYGO表面粗糙度量化分析 表面粗糙度是评价表面质量的重要参数。对粗糙度进行量化分析，有助于理解表面特性与功能性能的关系。

ZYGO非接触式测量方案 在表面测量中，非接触式方法因其不损伤样品的特性而受到关注。ZYGO Nexview NX2采用光学干涉原理，实现了对样品表面的非接触三维测量。该方案在精密零件检测、光学元件评估、半导体工艺监控等场景中有应用实例，为表面质量控制提供了测量选择。

ZYGO三维表面形貌观察 对材料表面三维形貌的观察，有助于了解表面特征与性能之间的关系。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪通过光学方法，能够获取样品表面的三维高度信息，为表面形貌分析提供了观察工具。该设备在材料研究、质量检测等领域有应用实例。

ZYGO白光干涉技术的应用 白光干涉技术是基于光波干涉原理的表面测量方法。ZYGO Nexview NX2设备将这一技术应用于实际测量，为观察样品表面微观形貌提供了工具。该技术在半导体、光学、精密制造等行业有应用案例，能够为表面质量评估提供数据参考。