ZYGO 数据处理方法 测量数据的处理是从原始干涉信号中提取有效表面信息的关键步骤。ZYGO Nexview NX2 白光干涉仪采集的原始数据经过一系列处理算法转化为可用于分析的三维形貌数据。

ZYGO 样品准备与放置 在光学测量中，样品的准备与放置质量直接影响测量结果的准确性和可靠性。对于ZYGO Nexview NX2这样的高精度白光干涉仪，正确的样品处理方法更是获得有效数据的关键前提。合理的样品准备和精确的样品放置不仅能够提高测量效率，还能减少测量误差，确保数据的可重复性和可比性。

ZYGO 测量模式解析 ZYGO Nexview NX2 白光干涉仪集成了多种测量模式，以适应不同表面特性的测量需求。了解这些测量模式的工作原理、适用场景及其特点，有助于用户根据具体样品和测量目标选择最合适的测量方式，从而获得可靠的测量结果。

ZYGO 在晶圆制程中的应用 晶圆作为半导体制造的基础材料，其表面质量对整个制程有着直接影响。

ZYGO精密制造质量监控 在精密制造过程中，对零件表面质量进行监控是保证产品性能的重要环节。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪能够对加工表面进行三维形貌测量，为制造过程的质量控制提供数据支持。该设备在精密制造行业有应用实例，能够为质量监控工作提供一种测量方法。

ZYGO材料表面研究工具 材料表面特性影响材料的多种性能。对表面形貌进行观察和分析，是材料研究的一个方面。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪能够获取材料表面的三维形貌信息，为表面结构与性能关系的研究提供工具。该设备在材料科学研究领域有应用案例。