Sensofar白光干涉仪作为精密光学测量设备，使用中易受光学部件、机械结构、软件系统及环境等因素影响出现故障。以下是其常见问题、成因及对应排查解决办法，结合其Sneox等主流系列的特性整理而来：光源相关问题常见故障：光源亮度不稳定、不亮，或4色LED光源(红、绿、蓝、白)某一色无法点亮，影响干涉条纹形成。排查解决：先检查电源连接是否牢固，开关是否正常，若电源无问题，再查看光源连接线有无破损、接触不良；其采用光纤耦合相关的光源结构，需重点检查光纤是否折损、脱落；LED光源虽寿...

微透镜阵列作为光学领域的核心元件，由数百至数千个微米级透镜单元组成，广泛应用于成像系统、光通信、传感器等领域。其表面微观3D轮廓参数（如曲率半径、面型误差、中心厚度等）直接影响光学性能，而白光干涉仪Sneox凭借其非接触、高精度、三维成像的独特优势，成为微透镜阵列表征的“黄金标准”。一、亚纳米级精度：解锁微观形貌的“密码”微透镜阵列的测量需满足三大核心需求：高精度三维参数提取、大面积快速检测、非接触无损测量。传统探针式轮廓仪虽精度较高，但接触式测量易划伤表面；激光共聚焦显微镜...

在半导体、精密光学等制造领域，表面测量常面临“精度”与“范围”的两难——白光干涉（CSI）能扫数百微米却难及纳米级精度，相移干涉（PSI）达亚纳米精度却量程受限。而Sensofar的ePSI技术，用创新融合破解了这一难题。ePSI的核心，是让CSI与PSI“强强联手”：依托CSI实现数百微米的宽范围扫描，覆盖宏观轮廓到中观结构；借助PSI达成0.1nm的亚纳米级分辨率，精准捕捉微小划痕、薄膜厚度差异。无需频繁换设备、调参数，一次测量就能兼顾全局与细节。这一技术已在关键领域落地...

在精密测量与科研领域，软件工具的性能直接决定了工作流程的效率与数据精度。2025年10月，Sensofar针对旗下四款核心软件推出重磅更新，从分析能力拓展、运行速度提升到测量精度优化，解决用户在数据采集、处理与成像中的痛点，助力科研与工业检测工作更高效、更强大！一、SensoPRO3.5.5：分析能力再升级，颗粒数据处理更便捷作为数据分析的核心工具，SensoPRO3.5.5此次更新聚焦“能力扩展”与“效率提升”，新增四大实用功能，覆盖多场景测量需求：1新增四大分析插件：引入...

在材料科学的微观世界探索中，在生物学的细胞结构研究里，在医学的病理分析以及工业的质量检测领域，扫描电子显微镜（SEM）始终扮演着重要的角色。自20世纪30年代诞生以来，这项技术不断革新，从最初仅能在实验室使用的精密设备，逐渐发展成为覆盖多个科学领域的重要工具。如今，扫描电镜主要分为台式和落地式两大类，面对这两种选择，不少科研人员和企业采购者都会陷入纠结。今天，我们就从多个关键维度进行对比，为你选出合适的扫描电镜提供参考。台式扫描电镜与落地式扫描电镜探测器：满足基础需求vs适配...

在光学玻璃、电子显示屏、精密仪器制造等领域，玻璃表面质量直接影响产品的光学性能和使用寿命。Sensofar共聚焦白光干涉仪作为先进的三维表面形貌测量设备，凭借其独特的多技术融合优势，为玻璃表面质量检测提供了高精度、非接触式的解决方案。一、核心技术优势Sensofar设备创新性地整合了共聚焦显微镜、白光干涉仪和相位差干涉三大技术，通过智能软件实现无缝切换：1.白光干涉模式：针对玻璃等光滑表面（如光学镜片、手机盖板），提供纳米级垂直分辨率，可精确测量表面粗糙度Ra值至0.1nm级...

在微观世界的探索中，人类始终面临一个基本的物理屏障——衍射极限。这个由波动性质决定的限制，如同无形之墙，约束了我们观察和操纵微小物体的能力。但科学的发展史正是一部不断突破极限的史诗，本文将带您从物理直觉入手，浅析衍射极限的奥秘，对比光与电子的表现，并展望超分辨率技术的未来。衍射极限：波动世界的天然边界想象用声波探测一根细针：如果针远粗于波长，声波会形成清晰回声；但当针细至波长量级，声波将绕过它继续传播，仿佛针不存在一般。这就是衍射现象的核心体现。光作为电磁波，在通过透镜成像时...

什么是真正的面测量系统？传统的测量方式往往局限于点或线扫描，这可能导致数据不全面或效率低下。Smart2则不同，它是一款真正的面测量系统。这意味着它能一次性对整个区域进行成像，确保X和Y方向上的横向分辨率始终一致。无论您的样品形状如何复杂，Smart2都能提供均匀、高精度的图像，大幅提升检测可靠性和速度。告别零散的点线扫描，迎接全面覆盖的智能新时代！强大功能，一机多用面对多样化的样品特征，单一技术往往力不从心。Smart2创新性地在同一个测量头中整合了三种先进技术：Ai多焦面...