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技术文章
TECHNICAL ARTICLES在追求微观世界精确数据的道路上,科研人员与工程师们常常陷入两难:是追求数据的全面性,还是保证检测的高效性?尤其当面对具有重复性结构的样品时,传统手动测量方式已成为瓶颈。Sensofar推出的Slynx2光学轮廓仪,其全新的自动化流程模块(APM),正是为了打破这一瓶颈,将繁琐的测量任务转化为高效、可靠的自动化流程。01精准定义,一键执行:APM的工作哲学APM的核心,在于将专家的测量知识转化为可重复执行的标准化程序。用户无需重复繁琐的操作,只需在直观的软件界面中定义好测量路径...
在扫描电子显微镜的微观世界里,科研人员常常会遇到一个令人困惑的现象:当观察陶瓷、高分子聚合物等绝缘样品时,图像会出现异常亮区、扭曲漂移,甚至瞬间的“闪白光”。这些“幽灵闪光”背后,究竟隐藏着怎样的物理奥秘?电荷积累效应的物理本质扫描电镜通过发射高能电子束扫描样品表面,通过检测二次电子和背散射电子信号来成像。当电子束轰击绝缘样品时,注入的电子无法像在导电样品中那样快速导出,从而在局部形成负电荷区。这些累积的电荷会产生静电场,严重干扰后续电子束的扫描路径和信号电子的轨迹,导致图像...
在精密制造领域,刀具的质量检测直接关系到加工零件的精度和表面质量。Sneox五轴3D光学轮廓仪的出现,为刀具检测提供了一种全新的高效测量方案。高精度旋转平台,稳定可靠的硬件支撑仪器的核心是它的五轴旋转平台,配备高精度电动旋转A轴,支持360°无限旋转,定位重复性达到惊人的1弧秒。电动B轴的工作范围为-30°至110°,定位精度为0.5弧分,并配备限位开关确保安全。同时,系统集成的System3R夹紧系统进一步保证了测量的稳定性。突破技术局限,精准测量微小特征Sneox五轴系统...
Linkam冷热台作为科研实验室和制药工业中广泛使用的温度控制设备,能够实现样品从室温到高温或低温的快速升温和降温。正确的保养维护不仅能延长设备使用寿命,更能确保实验数据的准确性和设备的长期稳定运行。本文将为您详细介绍Linkam冷热台的保养要点。一、日常清洁与使用规范1.清洁工作是保养的基础。每次使用后,应等待设备冷却至室温,使用无水乙醇棉球轻轻擦拭样品台面,重点清理样品放置区域。对于顽固污渍,可使用稀盐酸(1:10)浸泡10分钟,随后用去离子水冲洗并烘干。严禁使用硬物刮擦...
泽攸ZEM20台式电镜的性能建立在其扎实的硬件设计和材料选择之上。从其电子光源到信号收集系统,每一个组件的设计都影响着最终的分析结果。电子光学系统是电镜的“心脏”。ZEM20采用钨灯丝电子枪作为发射源。这是一种经久耐用、经济实惠且操作稳定的技术方案。虽然其亮度不及场发射枪,但对于台式电镜的应用场景而言,其性能足以满足大部分日常观测需求,且在维护成本和操作简便性上具有优势。镜筒内的电磁透镜由高导磁材料制成,其设计旨在有效聚焦电子束,减小像差,从而保证在宽放大倍数范围内都能获得清...
SensofarSneox通过共聚焦、干涉、多焦面叠加技术的无缝切换,实现了从亚纳米级光滑表面到毫米级粗糙结构的全范围测量覆盖。共聚焦技术通过针孔过滤非焦点光线,获取高对比度二维图像,纵向扫描后构建3D形貌。该模式横向分辨率达0.10μm,搭配150倍、0.95数值孔径镜头时,光滑表面测量斜率达70°,粗糙表面达86°,Z轴测量重复性稳定在纳米级别。适用于微小线条、缝隙等精细结构的识别,如半导体芯片的线路形貌检测。白光干涉与相位移干涉模式针对不同光滑度表面优化:白光干涉纵向分...
点击蓝字关注我们在半导体制造工艺中,刻蚀作为关键工艺环节,其精度直接决定着芯片性能的优劣。传统测量方法在面对复杂的刻蚀剖面时往往力不从心,而SensofarSneox3D光学轮廓仪的出现,为这一难题带来了突破性解决方案。刻蚀工艺的测量挑战刻蚀工艺通过湿法刻蚀或干法刻蚀方式,选择性去除晶片材料以塑造电路特征。在这个过程中,刻蚀深度均匀性和侧壁角度精度成为影响器件性能的关键参数。特别是随着器件尺寸的不断缩小,对测量精度的要求也越来越高。突破性技术优势SensofarSneox3D...
在半导体制造、光学元件检测与生物医学工程领域,表面形貌的纳米级差异往往决定着产品性能的成败。西班牙Sensofar白光干涉仪凭借其独特的复合光学系统与智能算法,成为全球精密测量领域的标准设备。本文将解析其核心构造原理,并揭示条纹观测背后的技术突破。一、四大核心系统构建测量基石Sensofar白光干涉仪采用“共聚焦+白光干涉”双模融合架构,通过精密光学设计实现亚纳米级垂直分辨率。其核心系统包括:1.光源与分光模块:采用LED白光光源(400-700nm),经分光棱镜分为测量光路...