在精密测量的复杂版图中，Sensofar S neox 以其设计和强大的功能，成为众多行业实现高精度检测与研究的得力助手。无论是在追求工艺的工业生产，还是探索微观奥秘的科研领域，S neox 都展现出适用性。
四合一技术，适应多元测量需求
S neox 将共聚焦、干涉、Ai 多焦面叠加以及薄膜测量技术融合于一体，打造出一套适应各类表面测量的综合性方案。其共聚焦技术，借助高数值孔径物镜，能够实现高达 0.15μm 的横向分辨率，即使面对具有复杂微观结构的样品，也能精准捕捉其表面细节，特别适合关键尺寸测量。干涉技术涵盖相位差干涉和白光干涉，前者能以亚纳米级精度测量高度光滑且连续的表面，后者则在纳米级精度下对各类表面进行高度形貌测量，且不同放大倍数下均能维持出色的纵向分辨率。Ai 多焦面叠加技术专为大粗糙表面设计，凭借主动照明机制，不仅能在高斜率（可达 86°）表面上稳定工作，还能实现快速测量（速度高达 3mm/s），有效补充了低放大率下的测量能力。此外，S neox 的薄膜测量技术可在 1 秒内完成对 50nm 至 1.5μm 厚度透明膜的测量，测量光斑最小可达 0.5μm，为薄膜相关研究与生产提供了高效手段。
高速采集，提升工作效率
得益于全新的智能算法与高性能相机，S neox 的数据采集速度达到了 180fps，标准测量采集速度相较于前代产品提升了 5 倍，成为市场上数据获取极为高效的区域测量系统。这一特性在对大量样品进行快速筛查，或在实时监测生产线上产品质量时优势尽显。例如，在半导体芯片制造的质量控制环节，S neox 能在短时间内对芯片表面进行大面积扫描，迅速识别出潜在的缺陷，大大缩短了检测周期，保障生产流程的高效运转。
简洁易用，降低操作门槛
Sensofar 始终致力于为用户提供出色体验，S neox 的第五代系统将操作便利性提升到新高度。即使是初次接触的用户，也能通过简单的一键操作完成复杂测量任务。系统配套的 SensoSCAN 软件拥有直观的用户界面，通过清晰的导航引导用户在 3D 环境中进行操作。在测量准备阶段，用户借助概览工具可对样品进行全面检查，确定测量位置，高倍放大操作也变得轻松便捷。同时，软件具备的 3D 自动功能，能自动判断并设置优良测量参数，无需用户手动调试，大幅提升了测量效率与准确性。
坚固耐用，适应复杂环境
在实际应用场景中，许多生产环境充满挑战，如存在振动、碎屑或腐蚀性物质等。S neox 通过精心设计，有效应对这些难题。其良好的密封构造可防止碎屑和颗粒进入内部，无运动部件的光学设计极大降低了机械故障风险，保障系统长期稳定运行。对于有特殊环境要求的行业，如半导体制造等对洁净度要求领域，S neox 还推出了兼容 ISO 1 级无尘室的型号。该型号经过严格测试，在满足无尘环境要求的同时，保留了 S neox 的所有强大功能，确保在苛刻环境下仍能提供精准测量结果。
广泛应用，助力多领域发展
S neox 的应用范围极为广泛。在半导体领域，可用于监测化学机械抛光（CMP）过程中晶圆表面的平整度，为芯片制造工艺优化提供关键数据；在光学元件制造方面，能精确检测镜片、透镜等表面的微观缺陷与粗糙度，保障光学元件的成像质量；在医疗设备生产中，对于微流体芯片、植入式器械等的表面质量检测，有助于提升医疗器械的安全性与可靠性。以某光学企业为例，引入 S neox 后，其光学镜片的次品率显著降低，产品的光学性能一致性得到大幅提升，增强了企业在市场中的竞争力。
选择 Sensofar S neox，意味着在精密测量领域拥有一位全面且可靠的伙伴。它凭借优良技术、高效性能、便捷操作以及强大的环境适应性，为科研与工业生产提供精准、快速的测量解决方案，助力各行业在追求高精度与高质量的道路上不断迈进，实现新的突破与发展。
当前位置：
相关文章
上一个：
返回列表
服务热线：
公司地址：
公司邮箱：
产品简介
产品分类