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三维光学轮廓仪
BEUKER白光干涉光学轮廓仪
BEUKER白光干涉仪:表面形貌测量新选择
BEUKER白光干涉仪:表面形貌测量新选择BEUKER白光干涉光学轮廓仪采用非接触式测量技术,适用于微纳米级表面形貌分析。其核心部件采用高质量光学镜头和稳定光源系统,确保测量数据的可靠性。
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产品细节与性能
光学系统:配置高分辨率CCD和长寿命LED光源,适应不同材质表面的测量需求。
扫描范围:垂直扫描范围可达10mm,横向分辨率优于0.1μm。
软件支持:配备专业分析软件,支持3D形貌重建、粗糙度计算等功能。
用材与参数
主体框架采用铝合金材质,兼顾轻便与稳定性。
光学元件经过防尘防霉处理,适合实验室和工业环境。
主要型号
BKI-200:基础型,适用于常规科研与质检。
BKI-300:高精度型,支持更大范围测量。
用途
广泛应用于半导体、光学元件、精密加工等行业,可用于检测表面粗糙度、台阶高度、薄膜厚度等。
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