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泽攸台阶仪高精度测量得力助手

产品简介

泽攸台阶仪高精度测量得力助手
对于需要较高测量精度的场景,泽攸台阶仪凭借其精细的设计和稳定的性能,能提供可靠的测量数据,适合科研机构和高精度制造企业使用。

产品型号:
更新时间:2025-08-25
厂商性质:代理商
访问量:40
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对于需要较高测量精度的场景,泽攸 ZY - 1000 台阶仪凭借其精细的设计和稳定的性能,能提供可靠的测量数据,适合科研机构和高精度制造企业使用。

泽攸台阶仪高精度测量得力助手

产品细节
机身设计注重稳定性,底部设有防震脚垫,减少外界振动的影响。操作界面采用触摸屏设计,可直观设置各项参数,支持自定义测量程序,方便针对不同样品保存测量方案。样品台配备微米级调节旋钮,能精准调整样品的位置,确保测量点对准。测量探头配有保护盖,闲置时可有效防尘防潮。
产品性能
该台阶仪的测量分辨率较高,能捕捉到微小的台阶高度变化和表面凹凸细节。采用闭环控制的传动系统,探头移动的定位精度较好,多次测量同一位置的偏差较小。它具备数据统计功能,可对多组测量结果进行平均值、最大值、最小值的计算,便于分析样品的整体状况。对光学镜片、半导体晶圆等高精度表面的测量效果较好。
用材讲究
测量探头采用特殊的宝石材料,硬度高且耐磨性强,保证了长期高精度测量的稳定性。设备内部的光学传感器选用高灵敏度元件,能精确感知探头的微小位移。样品台采用天然花岗岩材质,具备良好的稳定性和抗震性,确保测量过程中样品台自身的形变极小。
参数详情
参数项
具体数值
测量范围
0 - 1000μm(台阶高度)
分辨率
可满足高精度台阶测量需求
定位精度
±1μm(样品台移动)
数据存储
可存储 1000 组测量数据
电源要求
220V±10%,50Hz
广泛用途
在半导体晶圆制造中,可测量光刻胶台阶、蚀刻深度,为晶圆加工工艺的优化提供数据支持。在光学元件生产中,能检测透镜表面的曲率台阶、镀膜厚度,保障光学元件的成像质量。在精密仪器研发中,可测量微小机械结构的台阶尺寸和表面粗糙度,确保仪器的正常运行。
使用说明
设备需放置在恒温恒湿的实验室环境中,避免阳光直射和气流干扰。使用前对设备进行校准,按照说明书的步骤用标准样品调整测量精度。放置样品时,使用专用的样品座,确保样品与样品台紧密贴合。通过触摸屏设置详细的测量参数,包括测量路径、采样间隔等,启动测量后耐心等待完成。测量数据可导出至电脑进行进一步分析,设备使用后需关闭电源,盖上防尘罩。
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