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泽攸透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统,透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。
泽攸透射电镜原位MEMS低温电学测量系统,是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块,实现低温电学测量或全温区测量功能。
泽攸透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统,采用全新的O圈辅助密封设计,更易封装液体。实验中,样品被密封在很薄氮化硅薄膜覆盖的液体池内,池内可以承载一个大气压。芯片电极联通外接电路,从而在电镜中搭建一个液体-电化学测试环境。
泽攸透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统,在透射电子显微镜中制造气氛及高温环境,实现1 Bar & 800 ℃的端观测条件。
泽攸透射电镜原位STM-TEM电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量