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泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案

产品简介

泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案泽攸透射电镜原位MEMS系统是一套专为透射电子显微镜设计的微机电实验平台,旨在实现对材料在多种外场激励下的实时动态观测。该系统通过精密的微纳加工技术,为材料科学研究提供了原位实验的解决方案。

产品型号:
更新时间:2025-08-13
厂商性质:代理商
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核心技术特点

泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案 泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案

多功能激励模块

• 集成热学、电学、力学等多物理场激励功能

• 温度控制范围通常为室温至1000℃

• 最大施加电压可达200V

• 力学加载分辨率可达毫牛量级

样品适配设计

• 标准样品窗口尺寸为500×500μm

• 兼容主流透射电镜样品杆接口

• 支持液体环境实验(选配)

• 低热漂移结构设计

信号采集系统

• 集成高灵敏度传感器

• 实时数据同步采集功能

• 多通道信号输出接口

• 兼容电镜图像同步记录

典型应用方向

  1. 纳米材料在外场作用下的结构演变研究

  2. 催化剂材料反应过程的原位观察

  3. 低维材料机电性能表征

  4. 功能材料相变行为分析

  5. 微纳器件工作机理研究

操作注意事项

• 需在专业人员指导下安装使用

• 实验参数设置建议循序渐进

• 高温实验需注意热平衡时间

• 定期检查电气连接状态

• 建议配合防震措施使用

技术支持服务

泽攸科技提供以下专业支持:

  • 系统安装与操作培训

  • 实验方案设计咨询

  • 定期维护保养服务

  • 专用配件供应保障

  • 数据分析方法指导

产品价值体现

该原位MEMS系统通过其多场耦合的实验能力和精密的微纳结构设计,为透射电镜下的动态观测研究提供了实用的技术手段。系统适用于需要在外场条件下研究材料微观结构变化的科研领域。泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案


泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案



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