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台式电镜&台阶仪&原位分析
泽攸TEM原位方案(样品杆)
泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案
泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案泽攸透射电镜原位MEMS系统是一套专为透射电子显微镜设计的微机电实验平台,旨在实现对材料在多种外场激励下的实时动态观测。该系统通过精密的微纳加工技术,为材料科学研究提供了原位实验的解决方案。
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泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案 泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案
• 集成热学、电学、力学等多物理场激励功能
• 温度控制范围通常为室温至1000℃
• 最大施加电压可达200V
• 力学加载分辨率可达毫牛量级
• 标准样品窗口尺寸为500×500μm
• 兼容主流透射电镜样品杆接口
• 支持液体环境实验(选配)
• 低热漂移结构设计
• 集成高灵敏度传感器
• 实时数据同步采集功能
• 多通道信号输出接口
• 兼容电镜图像同步记录
纳米材料在外场作用下的结构演变研究
催化剂材料反应过程的原位观察
低维材料机电性能表征
功能材料相变行为分析
微纳器件工作机理研究
• 需在专业人员指导下安装使用
• 实验参数设置建议循序渐进
• 高温实验需注意热平衡时间
• 定期检查电气连接状态
• 建议配合防震措施使用
泽攸科技提供以下专业支持:
系统安装与操作培训
实验方案设计咨询
定期维护保养服务
专用配件供应保障
数据分析方法指导
该原位MEMS系统通过其多场耦合的实验能力和精密的微纳结构设计,为透射电镜下的动态观测研究提供了实用的技术手段。系统适用于需要在外场条件下研究材料微观结构变化的科研领域。泽攸原位电镜MEMS系统技术解析方案