泽攸原位MEMS：动态电镜观测新方案

原位MEMS技术：动态观测的新选择

泽攸科技的原位MEMS技术采用微纳加工工艺制造，可与主流透射电镜兼容，适用于多种原位实验场景，例如：

• 热学实验：通过精准控温，观察材料在加热或冷却过程中的相变、晶格演变等行为。

• 力学实验：对纳米材料或薄膜施加可控应力，研究其变形、断裂等力学响应。

• 电学实验：施加电场或电流，研究材料的电致形变、导电性变化等现象。

该技术采用低应力设计，有助于减少样品漂移，提高成像稳定性，使长时间原位观测成为可能。

技术特点与优势

泽攸科技的原位MEMS产品具有以下特点：

• 兼容性强：适配多种品牌透射电镜，支持标准样品杆接口。

• 高精度控制：温控、力加载等参数可精确调节，满足不同实验需求。

• 紧凑设计：MEMS芯片尺寸小，便于集成到TEM样品台，减少对电子束的遮挡。

• 多场景适用：适用于材料科学、半导体、能源存储等领域的研究。

应用案例

该技术已在多个研究方向得到应用，例如：

• 纳米材料研究：观察碳纳米管、二维材料等在热或力作用下的结构演变。

• 催化反应：原位监测催化剂在高温或气氛环境下的动态行为。

• 电池材料：研究电极材料在充放电过程中的微观结构变化。

结语

泽攸科技的透射电镜原位MEMS技术为动态微观表征提供了新的实验手段，可能帮助研究人员更深入地理解材料在外场作用下的行为。如需了解更多技术细节或应用案例，欢迎联系泽攸科技技术支持团队获取进一步信息。