布鲁克 Dimension Edge 白光干涉光学轮廓仪,专注纳米级微观测量,为高精度检测需求提供支持。布鲁克白光干涉光学轮廓仪纳米级测量新选择
产品细节
Dimension Edge 设计精密,机身带有防震减震装置。操作界面专业,支持多种高级测量模式设置,满足复杂样品检测需求。样品台采用压电驱动,移动精度高,可实现纳米级定位。
产品性能
测量分辨率高,能捕捉纳米级表面起伏与缺陷。采用先进干涉算法,数据处理精准,对超光滑表面测量效果突出。支持长时间连续测量,性能稳定性较好。
用材讲究
核心干涉组件采用特殊光学材料,保证干涉信号稳定。驱动系统选用高精度压电陶瓷,实现微纳米级位移控制。设备内部线路采用屏蔽设计,减少电磁干扰。
参数详情
广泛用途
适用于光学薄膜厚度测量、纳米涂层质量检测、高精度传感器表面形貌分析等高精度场景,为前沿技术研发提供数据支持。
使用说明
需在恒温恒湿实验室使用,远离磁场与振动源。测量前对设备进行精细校准,使用专用样品固定工具。操作人员需经过专业培训,熟悉高级功能设置。测量完成后,妥善保存数据,定期进行设备标定。
布鲁克这四款白光干涉光学轮廓仪,针对不同场景设计,凭借各自特点满足科研、桌面检测、工业生产、高精度测量等多样需求,为微观测量领域提供可靠支持。
布鲁克白光干涉光学轮廓仪纳米级测量新选择