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Sensofar S neox:多技术融合的测量新体验

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Sensofar S neox:多技术融合的测量新体验
在微观测量领域,单一技术往往难以应对复杂多样的测量需求。Sensofar 推出的新型共聚焦白光干涉光学轮廓仪 S neox,凭借共聚焦、干涉与多焦面叠加技术的融合应用,为用户带来了更为全面的测量解决方案。

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更新时间:2025-09-15
厂商性质:代理商
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Sensofar S neox:多技术融合的测量新体验

在微观测量领域,单一技术往往难以应对复杂多样的测量需求。Sensofar 推出的新型共聚焦白光干涉光学轮廓仪 S neox,凭借共聚焦、干涉与多焦面叠加技术的融合应用,为用户带来了更为全面的测量解决方案。
从技术原理来看,共聚焦技术通过针孔过滤掉非焦点光线,能够获取高对比度的二维图像,在此基础上进行纵向扫描,即可构建出样品表面的三维形貌。S neox 的共聚焦模块横向分辨率可达 0.10um,这意味着即便是微小的线条或缝隙,也能被清晰识别。当搭配 150 倍、0.95 数值孔径的镜头时,对于光滑表面的测量斜率能达到 70°,粗糙表面则可达到 86°,面对具有一定倾斜角度的样品表面,也能保持良好的测量效果。其的共聚焦算法让 Z 轴测量重复性稳定在纳米级别,为数据的可靠性提供了有力保障。
干涉技术是 S neox 另一重要技术支撑,分为相位差干涉和白光干涉。相位差干涉利用光的相位变化进行测量,纵向分辨率可达亚纳米级,且在不同放大倍数下均能保持这一精度。例如使用 2.5 倍镜头时,既能实现较大视场的观测,又能获得超高的纵向测量精度,非常适合对大面积光滑表面进行精细测量。白光干涉则基于白光的低相干特性,通过分析干涉条纹的变化来计算表面高度,纵向分辨率为纳米级,适用范围广泛,无论是光滑表面还是略带粗糙的表面,都能准确测量,且同样不受放大倍数影响。
多焦面叠加技术是 S neox 针对粗糙表面测量开发的特色功能。对于那些起伏较大、传统共聚焦技术难以一次性清晰成像的样品,该技术通过快速采集不同焦平面的图像并进行叠加处理,能够完整还原表面形貌。其扫描速度可达 mm/s 级别,在保证效率的同时,最大支持 86° 的测量斜率,对于工件、模具等具有复杂表面的样品测量来说,是非常实用的功能。
在硬件配置上,S neox 的光学镜头选用低色散光学玻璃,有效减少了色差对成像质量的影响,再加上多层增透膜的处理,大幅提升了光线透过率,使图像细节更加清晰。镜头镜筒采用不锈钢材质,具有良好的机械稳定性,在温度变化或轻微振动的环境中,不易发生形变,确保了光学系统的同轴度,维持了测量精度的稳定性。样品台导轨采用精密滚珠结构,并覆盖耐磨涂层,不仅移动顺滑,还能长期保持良好的运动精度,保证样品定位的准确性。
参数方面,S neox 提供了丰富的配置选择,样品台尺寸多样,最大可容纳 700×600mm² 的样品,满足不同规格样品的测量需求。设备整体尺寸约为 600mm×500mm×750mm,重量在 70kg 以内,台式一体化设计使其能轻松融入各类实验室和生产环境。
操作方面,S neox 配备的 SensoSCAN 软件界面简洁明了,即使是初次使用的用户,也能快速上手。软件具备导航预览功能,可自动大范围扫描样品,帮助用户快速定位测量区域,且在转换放大倍数时,预览图会实时显示当前观察位置,提升操作便捷性。若需要更专业的分析功能,可增配 SensoPRO LT 或 SensoMAP 软件。SensoPRO LT 支持全自动测量,适合生产线质量管控,其插件式分析模块可根据需求灵活增减,涵盖 LED 行业 PSS、Bump、粗糙度等多种分析场景,还能进行定制开发。SensoMAP 则基于 Mountains 平台,提供 2D、3D、4D 分析、粒度分析等多种功能模块,满足科研级别的深度分析需求。
无论是精密制造中的质量检测,还是材料科学中的表面分析,S neox 凭借多技术融合的优势,都能提供稳定可靠的测量数据,为各行业的研发与生产提供有力支持。


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