当前位置：
产品分类
相关文章
上一个：
返回列表
服务热线：
公司地址：
公司邮箱：
服务热线
17701039158
产品中心
PRODUCTS CNTER
产品简介
基恩士显微镜：微型光学元件的质检保障在微型光学元件制造领域，如手机摄像头镜片、AR/VR 设备光学模组、微型传感器透镜等，元件的表面面型精度、透光性及微观缺陷直接决定光学性能。哪怕是纳米级的面型误差或微米级的表面划痕，都可能导致光线折射异常、成像模糊，影响终端产品体验。基恩士 VK-X3000 激光共聚焦显微镜凭借多模式测量优势、高分辨率成像能力与针对性的光学检测功能，成为微型光学元件制造全流程
基恩士显微镜：微型光学元件的质检保障
纳米级面型精度测量：微型光学元件的面型精度直接影响光线成像质量，VK-X3000 在激光共聚焦模式下，20X 物镜高度重复性精度 σ 为 40nm，宽度重复性精度 3σ 为 100nm，可精准测量微型镜片的曲率半径、平面度误差。例如检测手机摄像头的微型凸透镜时，能测量镜片的面型误差（精度可达 λ/20，λ 为测试波长），确保光线经过镜片后能精准聚焦，避免成像畸变；检测光学棱镜时，可测量棱镜的角度偏差（精度 ±1 角秒），保障光线折射路径符合设计要求。
微观缺陷精准识别：微型光学元件表面的细微划痕、凹陷或内部气泡，会导致光线散射、透光率下降。VK-X3000 的 16BIT 光电倍增器可捕捉 65536 灰度级的细节差异，能识别表面深度仅 20nm 的细微划痕；配合白光干涉模式，可检测透明元件内部直径仅 1μm 的微小气泡。例如检测 AR 眼镜的光波导镜片时，能精准定位内部气泡位置与大小，避免因气泡导致的视觉光斑；检测微型传感器的保护镜片时，可发现表面细微划痕，确保传感器透光率符合性能标准。
透光率与均匀性分析：透光率是微型光学元件的核心性能指标之一，VK-X3000 通过面阵探测器彩色 CMOS 与专用光学分析算法，可量化分析元件的透光均匀性。例如检测 LED 背光模组的导光板时，能测量不同区域的透光率差异（精度 ±1%），判断导光板的网点分布是否均匀；检测光学滤光片时，可分析滤光片对特定波长光线的透过率，确保滤光效果符合设计要求，避免杂光干扰。
微型镜片质检：检测手机摄像头、微型投影仪中的凸透镜、凹透镜的面型精度（曲率半径、平面度）、边缘倒角尺寸与表面粗糙度；识别镜片表面的划痕、凹陷、麻点等缺陷；测量镜片厚度均匀性，确保同一批次镜片性能一致性。
光学模组检测：检测 AR/VR 设备光波导镜片的内部气泡、分层缺陷与透光均匀性；测量光学模组中镜片与镜片的间距、同轴度，确保模组组装精度；检测模组表面镀膜的厚度与均匀性，评估镀膜对光学性能的影响。
光学传感器元件检测：检测微型图像传感器、距离传感器的保护镜片透光率与表面缺陷；测量传感器光学镜头的焦距偏差与成像清晰度；检测光学编码器的光栅尺刻线精度（线宽、间距），确保编码器信号输出准确性。
样品准备：在光学洁净工作台上，用无尘布蘸取光学专用清洁剂轻轻擦拭凸透镜表面，去除灰尘与指纹；将凸透镜放置在载物台的光学专用夹具上，通过夹具的微调旋钮固定镜片，确保镜片中心与物镜中心对齐，避免检测时出现偏心误差。
设备调试与参数设置：打开 VK-X3000，选择 “激光共聚焦模式"，搭载 50X 物镜（NA≥0.8，WD0.54mm）；设置扫描范围为镜片有效光学区域（约 3mm×3mm），扫描分辨率为 2048×2048 像素（保证面型细节精度），扫描速度设为 50Hz（平衡精度与效率）；开启 “面型分析" 专用算法，预设面型误差、曲率半径的测量参数。
对焦与扫描：通过 Z 轴电动微调，配合软件的 “自动对焦" 功能，找到镜片表面的清晰聚焦面；启动扫描程序，设备自动采集镜片表面的三维轮廓数据，生成面型三维图像；扫描过程中，软件实时显示面型误差曲线，便于初步判断镜片面型是否符合要求。
数据分析与判定：扫描完成后，软件自动计算镜片的曲率半径、平面度误差（如 PV 值、RMS 值）与表面粗糙度（Ra、Rq）；对比设计标准（如曲率半径偏差允许 ±0.01mm，平面度误差允许≤0.5μm），判定镜片面型精度是否合格；通过 “缺陷标记" 工具，标注表面划痕、凹陷等缺陷的位置与尺寸，统计缺陷数量。
数据归档与反馈：将检测报告导出为 PDF 格式，包含面型三维图像、曲率半径数据、面型误差曲线与缺陷统计；将报告上传至光学元件生产管理系统，用于产品质量追溯；若面型精度不合格，分析误差原因（如模具磨损、加工参数偏差），反馈至生产车间调整工艺。
基恩士显微镜：微型光学元件的质检保障