解密布鲁克 ContourX-100：参数与用材细节
布鲁克三维光学轮廓仪 ContourX-100 作为一款用于表面形貌测量的设备，在工业检测、材料研发等领域应用广泛，其参数配置与用材选择是保障测量效果和设备稳定性的重要基础。
核心参数方面，ContourX-100 的测量范围覆盖多个关键维度。垂直测量范围能够应对从微小纳米级台阶到一定毫米级高度差的测量需求，适配不同厚度、高度的样品表面形貌分析；水平测量范围则可根据样品尺寸灵活调整，常规配置下能容纳多数中小型样品，同时支持通过扩展组件适配更大规格样品，满足多样化测量场景。分辨率表现上，垂直分辨率可达到较低的纳米级别，能捕捉到样品表面细微的高度变化，水平分辨率也处于行业常用的精细水平，可清晰呈现样品表面的微观结构细节。测量速度提供多档调节模式，快速模式适合初步筛查与大面积样品扫描，精细模式则用于获取更详实的微观形貌数据，不同模式下的测量时间会依据样品尺寸和参数设置有所差异，用户可根据实验需求灵活选择。
用材选择上，ContourX-100 的关键部件均经过严格筛选。设备的光学镜头采用高透光率光学玻璃，经过特殊镀膜处理，能减少光线反射与折射损耗，确保测量过程中光学信号的稳定传输，提升成像质量与测量准确性。样品台选用高强度合金材料，表面经过精密加工，平整度较高，可稳定承载样品，避免因样品台变形或不平整导致的测量误差，同时合金材质具备良好的耐磨性，长期使用后仍能保持稳定性能。设备外壳采用防腐蚀、抗冲击的金属材质，表面喷涂耐磨涂层，不仅能抵御实验室或工业环境中常见的化学试剂侵蚀，还能在意外碰撞时保护内部精密光学组件与电路系统，延长设备使用寿命。
此外，设备的传动系统部件选用高精度耐磨材料，减少长期运行中的机械磨损，保障样品台移动、镜头调节等动作的平稳性与准确性；内部电路基板采用耐高温、抗干扰的材质，确保设备在不同环境温度下稳定运行，同时降低外界电磁信号对测量数据的干扰。这些参数与用材的合理搭配，为 ContourX-100 的稳定运行和可靠测量性能提供了有力支撑，用户在选择和使用时，可结合自身样品特性与实验需求，充分发挥设备的参数优势和优质用材带来的稳定性能。
解密布鲁克 ContourX-100：参数与用材细节
当前位置：
上一个：
返回列表
服务热线：
公司地址：
公司邮箱：
产品简介
产品分类
相关文章