布鲁克 ContourX-100 性能与用途介绍
布鲁克三维光学轮廓仪 ContourX-100 凭借独特的光学测量原理，具备多项实用性能，在多个领域展现出广泛的应用价值，是工业生产与科研实验中的重要测量工具。
性能特点方面，ContourX-100 采用非接触式光学测量技术，无需与样品表面直接接触，可避免传统接触式测量对样品表面造成的划伤或损伤，尤其适合柔软、脆弱或表面易受损的样品，如高分子材料、生物组织切片等。测量过程中，设备通过光学系统捕捉样品表面的光学信号，结合算法重建三维形貌数据，数据处理速度较快，能在短时间内生成直观的三维形貌图与详细的测量报告，包含表面粗糙度、台阶高度、曲率半径等关键参数，为后续分析提供全面数据支持。同时，设备具备良好的环境适应性，内置温度补偿模块，可在一定温度范围内自动调整参数，减少环境温度变化对测量结果的影响，确保在实验室、车间等不同环境下均能保持稳定的测量性能。
用途场景上，ContourX-100 在工业检测领域应用广泛。在半导体行业，可用于芯片表面形貌检测，测量芯片线路的高度差、线宽以及表面平整度，辅助判断芯片制造过程中的工艺缺陷；在汽车零部件生产中，能检测零部件表面的粗糙度与磨损程度，评估零部件的加工精度与使用寿命；在光学元件制造领域，可对镜头、镜片表面的曲率、平整度进行测量，保障光学元件的光学性能。
在科研领域，ContourX-100 同样发挥重要作用。材料研发过程中，可用于分析新材料表面的微观形貌与结构特征，研究材料制备工艺对表面性能的影响；生物医学领域，能对生物组织切片、细胞表面形貌进行观察与测量，为生物结构研究与医学诊断提供数据参考；在涂层技术研究中，可测量涂层厚度、均匀度以及涂层与基底的结合界面形貌，评估涂层质量与性能。
此外，ContourX-100 还支持与其他分析设备联动，如与扫描电子显微镜配合使用，可同时获取样品的三维形貌数据与微观结构信息，为跨维度分析提供便利，进一步拓展了设备的应用范围。布鲁克 ContourX-100 性能与用途介绍
当前位置：
上一个：
返回列表
服务热线：
公司地址：
公司邮箱：
产品简介
产品分类
相关文章