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ZYGO 3D光学轮廓仪光学元件检测应用

产品简介

ZYGO 3D光学轮廓仪光学元件检测应用
光学透镜(如相机镜头、显微镜物镜)的表面粗糙度、曲率半径直接影响成像质量,需测量表面 Ra 值(≤0.01μm)、曲率半径(差≤0.1%),确保无划痕、凹陷等缺陷

产品型号:ZeGage Pro
更新时间:2025-10-14
厂商性质:代理商
访问量:8
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ZYGO 3D光学轮廓仪光学元件检测应用

一、光学透镜表面形貌测量
(一)应用场景与核心需求
光学透镜(如相机镜头、显微镜物镜)的表面粗糙度、曲率半径直接影响成像质量,需测量表面 Ra 值(≤0.01μm)、曲率半径(差≤0.1%),确保无划痕、凹陷等缺陷。
(二)设备配置与操作
  1. 硬件选择:根据透镜尺寸选物镜,小口径透镜(直径≤5mm)用 20X 物镜(水平分辨率 0.8μm),大口径透镜(直径>5mm)用 10X 物镜(覆盖更大范围);

  1. 参数设置:扫描范围 1-5mm×1-5mm(匹配透镜测量区域),数据点密度 1000 点 /mm²(捕捉微观粗糙度),开启 “偏振光" 功能(减少透明透镜反光干扰);

  1. 测量流程:用专用夹具固定透镜(避免按压变形),自动对焦后扫描(约 25 秒 / 次),软件生成 3D 表面形貌图。

(三)数据应用
  1. 软件计算 Ra 值,若超 0.01μm,反馈至透镜抛光工艺(调整抛光轮转速、磨料粒度);

  1. 选择 “曲率分析" 模块,自动拟合透镜曲面,输出曲率半径数据(如 R=20.05mm),与设计值(20mm)对比,偏差超 0.1% 需重新加工。

二、光学薄膜厚度测量
(一)应用场景与核心需求
光学薄膜(如增透膜、滤光膜,厚度 50-500nm)的厚度均匀性影响光学性能,需测量薄膜厚度及局部偏差(≤5nm),避免厚度不均导致透光率波动。
(二)设备配置与操作
  1. 硬件选择:选用 50X 物镜(垂直分辨率 0.05nm,精准捕捉薄膜层间信号),搭配白光干涉模块;

  1. 参数设置:扫描范围 0.2mm×0.2mm(薄膜局部区域),数据点密度 1200 点 /mm²,开启 “薄膜分析" 专用算法;

  1. 测量流程:将薄膜样品(如玻璃基底镀膜)放在样品台,扫描后软件自动识别薄膜上下表面(基于折射率差异),计算厚度值。

(三)数据应用
  1. 软件生成厚度分布热力图,标注厚度偏差超 5nm 的区域(如边缘区域厚度 480nm,中心 495nm),指导镀膜工艺调整(如优化镀膜机靶材位置);

  1. 统计整片薄膜的厚度均匀性(如平均厚度 490nm,偏差 ±3nm),作为薄膜合格判定依据。

三、棱镜角度与表面缺陷检测
(一)应用场景与核心需求
光学棱镜(如直角棱镜、等边棱镜)的棱角角度精度(差≤0.1°)、表面缺陷(划痕宽度≤1μm)影响光路偏转精度,需精准测量与识别。
(二)设备配置与操作
  1. 硬件选择:选用 10X 物镜(覆盖棱镜表面与棱角区域),搭配自动样品台(便于多角度测量);

  1. 参数设置:扫描范围 3mm×3mm(含棱镜棱角与表面),数据点密度 800 点 /mm²,开启 “缺陷识别" 功能(阈值设为划痕宽度≥1μm);

  1. 测量流程:自动样品台移动至棱镜不同区域(表面、棱角),分次扫描(约 30 秒 / 区域),软件整合多区域数据。

(三)数据应用
  1. 软件测量棱镜棱角角度(如直角棱镜 90.05°),偏差超 0.1° 需重新研磨棱角;

  1. 自动标红划痕缺陷(如宽度 1.2μm 的划痕),统计缺陷数量,超 3 处 / 片需返修。

四、应用注意事项
  1. 光学元件表面禁触碰,需戴无尘手套操作,避免指纹、灰尘污染测量区域;

  1. 测量透明元件时,确保样品台水平(用水平仪校准),防止样品倾斜导致测量偏差;

  1. 不同材质元件(如玻璃、塑料基底)需调整 “折射率参数"(软件内置常见材质折射率数据库),确保厚度、曲率计算准确。

通过在光学元件检测中的应用,ZeGage Pro 以非接触、高精度优势,满足透镜、薄膜、棱镜的核心测量需求,为光学制造提供可靠数据支撑。



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