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ZYGO 3D光学轮廓仪精特殊样品适配方案

产品简介

ZYGO 3D光学轮廓仪精特殊样品适配方案
通过针对性适配方案,ZeGage Pro 可突破柔性、磁性、透明脆性样品的测量限制,满足更多非常规场景的 3D 形貌测量需求。

产品型号:ZeGage Pro
更新时间:2025-10-14
厂商性质:代理商
访问量:6
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ZYGO 3D光学轮廓仪精特殊样品适配方案

一、柔性薄膜样品测量适配
(一)样品特性与测量难点
柔性薄膜(如塑料薄膜、金属箔片,厚度 5-50μm)易变形、褶皱,常规夹持易导致样品拉伸,影响表面粗糙度、厚度测量精度;且部分薄膜透光性强,成像对比度低,难以捕捉表面细节。
(二)适配方案与操作
  1. 固定方式:选用真空吸附样品台(选配,型号 ZGP-ST01),吸附压力设为 0.03-0.05MPa(根据薄膜厚度调整,薄膜用低压力),使薄膜平整贴合台面,避免褶皱;

  1. 光学调整:若薄膜透明,开启软件 “偏振光 + 增强对比度" 功能,调整光源亮度至 80%(常规 50%),提升表面纹理成像清晰度;

  1. 参数设置:选 20X 物镜(平衡范围与精度),扫描范围 1mm×1mm,数据点密度 800 点 /mm²,扫描速度调慢至 0.5 秒 / 帧(减少气流对薄膜的扰动)。

(三)应用案例
测量 PET 薄膜表面粗糙度(要求 Ra≤0.05μm):吸附固定后扫描,软件清晰捕捉薄膜表面微小凸起,计算 Ra=0.042μm,符合要求;若未用真空吸附,薄膜褶皱导致 Ra 测量值偏差达 0.02μm。
二、磁性零件样品测量适配
(一)样品特性与测量难点
磁性零件(如永磁体、电磁铁芯)表面磁场易干扰光学系统中的金属部件(如物镜支架),导致光路偏移,影响测量精度;且零件表面可能残留铁屑,干扰成像。
(二)适配方案与操作
  1. 磁场屏蔽:在样品台与设备主体间加装坡莫合金屏蔽板(厚度 2mm,型号 ZGP-SH01),削弱磁场对光学系统的影响;

  1. 样品清洁:测量前用无磁毛刷清扫零件表面铁屑,再用无水乙醇擦拭,避免杂质附着;

  1. 参数校准:更换磁性样品后,用标准台阶样板(非磁性材质,已知高度 0.5mm)重新校准,确保垂直测量误≤0.01μm;

  1. 硬件选择:选 5X 或 10X 物镜(低倍物镜金属部件少,受磁场影响小),避免用 50X 高倍物镜(精密部件多,易受干扰)。

(三)应用案例
测量电磁铁芯台阶高度(设计值 0.8mm):经屏蔽与校准后,实测值 0.802mm,偏差 0.002mm;未屏蔽时,磁场导致偏差达 0.01mm,超出合格范围。
三、透明脆性样品测量适配
(一)样品特性与测量难点
透明脆性样品(如玻璃镜片、陶瓷薄片)易因夹持力过大碎裂,且透明材质易产生光反射,导致干涉信号紊乱,影响厚度、平整度测量。
(二)适配方案与操作
  1. 夹持方式:用硅胶材质柔性夹具(硬度 50 Shore A),夹持力控制在 5-10N(通过夹具调节螺丝微调),避免样品受力碎裂;

  1. 光学优化:在样品底部垫黑色吸光衬垫(厚度 1mm,型号 ZGP-LN01),减少底面反射光干扰;软件选择 “透明样品专用算法",增强层间信号识别;

  1. 参数设置:选 50X 物镜(测厚度)或 10X 物镜(测平整度),扫描范围 0.5-2mm×0.5-2mm,数据点密度 1000 点 /mm²,确保捕捉层间细节。

(三)应用案例
测量石英玻璃薄片厚度(设计值 0.3mm):垫吸光衬垫后,软件清晰识别玻璃上下表面,实测值 0.301mm,偏差 0.001mm;未垫衬垫时,反射光干扰导致厚度测量偏差达 0.005mm。
四、适配通用注意事项
  1. 样品预处理:无论何种特殊样品,均需清洁表面(无油污、杂质),避免影响成像与数据;

  1. 分步测试:首测量特殊样品时,先小范围扫描(如 0.2mm×0.2mm),验证参数与适配方案是否可行,再扩大扫描范围;

  1. 数据对比:对同一特殊样品重复测量 3 次,若数据偏≤0.01μm,说明适配方案稳定,可批量测量。

通过针对性适配方案,ZeGage Pro 可突破柔性、磁性、透明脆性样品的测量限制,满足更多非常规场景的 3D 形貌测量需求。


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