Sensofar S neox：三技术合一的测量新选择

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Sensofar S neox：三技术合一的测量新选择
在精密测量领域，适配不同样品特性的工具总能提升工作效率。Sensofar S neox 3D 共聚焦白光干涉光学轮廓仪，凭借独特的三技术融合设计，成为科研与生产中的实用帮手。

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更新时间：2025-10-27

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在精密测量领域，适配不同样品特性的工具总能提升工作效率。Sensofar S neox 3D 共聚焦白光干涉光学轮廓仪，凭借独特的三技术融合设计，成为科研与生产中的实用帮手。

产品细节上，S neox 采用模块化桌面结构，机身尺寸约 600mm×500mm×700mm，重量 50kg，核心模块可灵活拆装。10 英寸触控操作界面支持多语言切换，新手也能快速上手，甚至可一键启动预设流程。样品台为电动微调结构，X/Y 轴行程 50mm×50mm，Z 轴 15mm，搭配多种夹具，能固定直径 5-50mm 的不同材质样品。

性能方面，其核心优势在于 “3-in-1" 技术组合 —— 共聚焦、白光干涉与 Ai 多焦面叠加模式可通过软件一键切换。共聚焦模式适配粗糙表面，横向分辨率达 0.1μm；干涉模式针对光滑表面，纵向分辨率低至 0.1nm；多焦面叠加则适合大粗糙表面，纵向测量范围可达 37mm。数据采集速度达 180fps，标准测量比前代快 5 倍，长时间工作时温度漂移导致的精度变化也控制在 0.3nm 以内。

用材上，核心光学部件选用高纯度熔融石英玻璃，透光率超 92%，镜头镀有氧化硅与氟化镁复合膜，反射率≤0.5%。机械部分采用高强度铸铁底座减震，304 不锈钢样品台平整度误差≤2μm，配合精密滚珠丝杠驱动，移动精度达 0.1μm。

基础参数简表

参数项	数值
测量技术	共聚焦 + 干涉 + 多焦面叠加
横向分辨率	0.1μm（共聚焦模式）
纵向分辨率	0.1nm（干涉模式）
样品台行程	X/Y 50×50mm，Z 15mm
工作温度	15-25℃

目前该系列包含基础版、进阶版与定制版，基础版 / 进阶版样品承载≤5kg，定制版可达 15kg。在材料科学中，可测金属薄膜厚度与泡沫孔隙；光学工程里能检测透镜面形误差，适配多场景需求。使用时只需预热 20 分钟，校准模块后固定样品、选择模式即可，操作便捷高效。Sensofar S neox：三技术合一的测量新选择

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