这款型号的核心细节在于超大测量范围，XY 轴行程达 600×600mm，搭配闭环龙门设计，无论样品重量如何，都能保持稳定表现。移动速度可达每秒一米，大幅缩短大面板的检测耗时，尤其适合批量生产中的质量控制。
性能上，它延续了 “3-in-1" 技术优势，传感器能根据样品特性自动匹配优测量技术，精度可达到亚纳米级别。同时通过 SEMI S2、S8 等行业标准认证，并获得 TÜV 莱茵 land 认证，在半导体表征场景中使用更有保障。
用材与防护设计贴合工业环境，传感器符合 ISO 1 级洁净室标准，机身采用不锈钢外壳，能减少颗粒排放，适配严格的生产洁净环境。内部机械结构延续精密设计，确保在大行程移动中仍保持测量稳定性。
核心参数简表
在半导体行业，它可用于大尺寸晶圆表面检测；显示领域能测量面板的平整度与 pixel 结构；PCB 生产中则适配多层线路板的轮廓分析。使用时需将设备置于防震平台，根据样品类型选择技术模式，启动后系统可自动完成大范围扫描，生成的报告还能通过软件自定义标注关键数据。
### S neox：科研实验室的多面手 生物医学、光学工程等领域的科研工作，常需应对不同特性的样品，S neox凭借灵活设计成为实验室实用工具。
产品细节上，其模块化设计支持功能扩展，可连接低温样品台（-196℃至室温）、加热样品台（室温至 300℃），模拟多样环境条件下的测量。可选配的荧光模块，搭配高灵敏度 CMOS 探测器，能满足生物样品的荧光标记观察需求。软件支持保存自定义工作流，如 “生物样品预处理 - 共聚焦扫描 - 数据分析"，简化重复实验操作。
性能方面，多技术模式适配不同科研场景：生物医学中，共聚焦模式可清晰观察细胞在支架表面的黏附形态；材料科学里，干涉模式能测量金属薄膜厚度，多焦面叠加模式可分析泡沫材料孔隙结构。多次测量偏差小于 3%，为实验数据提供稳定支撑。针对易变形的生物软组织，低接触力模式能减少测量对样品的破坏。
用材上，核心光学玻璃透光率＞95%，减少信号损失；内部机械部件采用精密齿轮与滚珠丝杠，测量时振动幅度＜0.1μm，避免干扰精密样品。外壳的防腐蚀工程塑料经过哑光处理，降低光线反射影响。
关键参数简表
型号涵盖基础版与进阶版，进阶版支持更多扩展模块。在地质研究中，可观察岩石孔隙分布；光学工程里能检测棱镜角度偏差。使用前需根据实验需求安装模块并校准，样品制备后固定在专用夹具上，选择对应技术模式即可启动测量，软件还能进行多技术数据融合分析。 Sensofar S neox：大样品测量方案
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