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详解布鲁克ContourX系列轮廓仪核心技术 在表面计量学领域,对物体表面微观形貌进行非接触、高分辨率的测量是一项关键需求。
详解布鲁克ContourX系列轮廓仪核心技术 布鲁克ContourX系列三维光学轮廓仪的测量能力,源于其核心的白光干涉技术(WLI)和稳健的机械设计。理解这些技术细节,有助于用户更好地发挥仪器的潜能。
布鲁克ContourX轮廓仪专注高效小样品检测 在需要处理较大型工件的研发与质量检测环节,对测量设备的样品容量提出了要求。布鲁克ContourX-100三维光学轮廓仪正是为满足此类需求而设计。
布鲁克ContourX系列轮廓仪平衡性能与灵活性 在需要处理较大型工件的研发与质量检测环节,对测量设备的样品容量提出了要求。布鲁克ContourX-500三维光学轮廓仪正是为满足此类需求而设计。
布鲁克ContourX 轮廓仪应对大尺寸样品测量 在需要处理较大型工件的研发与质量检测环节,对测量设备的样品容量提出了要求。布鲁克ContourX-500三维光学轮廓仪正是为满足此类需求而设计。
认识布鲁克ContourX系列三维光学轮廓仪 布鲁克公司的ContourX系列三维光学轮廓仪,涵盖了ContourX-500, ContourX-200和ContourX-100三种型号,为不同领域的表面三维形貌测量提供了多样的选择。这个系列的产品基于白光干涉技术(也称垂直扫描干涉术),通过非接触的方式,能够对从超光滑到相当粗糙的表面进行三维形貌测量和量化分析。