白光干涉仪S neox的校准与准确性

产品简介

白光干涉仪S neox的校准与准确性：Sensofar S neox 3D光学轮廓仪通过系统化校准流程，确保XY尺寸、Z轴高度及干涉参考平等精确可溯，为科研与精密制造提供可靠、可复现的纳米级测量数据。

产品型号：

更新时间：2025-11-14

厂商性质：代理商

访问量：57

产品咨询 17701039158

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

三维光学轮廓仪

布鲁克 BEUKER白光干涉光学轮廓仪 Sensofar 仪光新型共聚焦白光干涉仪 SENSOFAR 3D光学轮廓仪 SENSOFAR共聚焦白光干涉仪 SENSOFAR结构光三维轮廓仪 SENSOFAR平面度测量干涉仪 ZYGO三维光学轮廓仪布鲁克三维光学轮廓仪

查看全部产品

产品资讯 | SENSOFAR SensoCOMP发布：为复杂3D检测任务带来清晰指引

白光干涉仪S neox：微透镜阵列表征的精密利器

打破测量瓶颈！Sensofar ePSI 技术，高精度表面检测的 “全能选手”

Sensofar共聚焦白光干涉仪：玻璃表面质量的精密检测方案

详细介绍在线留言

白光干涉仪S neox的校准与准确性

在精密测量领域，测量结果的可靠性和可信度是首要考虑的因素。仪器的校准是确保测量数据准确、可追溯至国际标准的基石。Sensofar S neox 3D光学轮廓仪提供了系统化的校准流程和工具，致力于保证在不同测量模式下获得数据的一致性和准确性。

校准的本质是通过与已知标准进行比对，来标定测量系统的尺度。对于S neox这样的三维光学测量系统，校准主要涉及几个方面：XY平面的尺寸校准、Z轴的垂直距离校准，以及对于白光干涉模式至关重要的参考平面平整度校准。

S neox的软件通常内置了清晰的校准向导，引导用户逐步完成整个过程。对于XY校准，会使用具有标准刻度（如微米级光栅）的参考样板。系统通过成像并分析该样板，来精确校准每个物镜的放大率，确保在水平方向上测量的尺寸与实际物理尺寸一致。

Z轴校准同样关键。它会使用具有已知高度（如台阶高度标准片）的参考物。仪器通过扫描这个台阶，将测量得到的高度值与标准证书上的标称值进行比对和校正，从而确保垂直方向测量的准确性。这个过程对于共聚焦和白光干涉模式都十分重要。

对于白光干涉模式，还有一个特殊的校准步骤：参考镜平整度校准。由于干涉测量是将样品表面与一个内部参考镜进行比较，任何参考镜本身或光学系统固有的微小误差都会影响测量结果。因此，仪器会通过测量一个光学平晶（其表面平整度是已知的）来记录系统固有的误差图。在后续测量中，软件会自动从样品测量结果中减去这个误差图，从而得到更能反映样品真实形貌的数据。

这些校准工作并非一劳永逸。建议用户根据使用频率和环境稳定性，定期进行校准，以确保仪器持续处于良好的工作状态。良好的校准实践，使得不同时间、由不同操作者使用同一台S neox获得的数据可以相互比较，这对于长期的研究项目和生产过程的质量追踪尤为重要。

此外，校准用的参考标准件本身需要可以溯源至国家或国际标准，从而建立起完整的量值溯源链。这意味着，用户最终获得的纳米级高度测量结果，其可靠性是有据可依的。

因此，Sensofar S neox不仅提供了测量的能力，更通过一套完善的校准体系，为测量结果的准确性和可重复性提供了支持，这对于需要严谨数据的科研和精密制造领域而言，是一项基础且重要的特性。