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共聚焦白光干涉轮廓仪S lynx2 应用领域

产品简介

共聚焦白光干涉轮廓仪S lynx2 应用领域
Sensofar的共聚焦白光干涉轮廓仪S lynx2,凭借其非接触、三维、可量化的测量特点,在多个需要对表面微观形貌进行分析的行业中找到了应用场景。

产品型号:
更新时间:2026-02-02
厂商性质:代理商
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共聚焦白光干涉轮廓仪S lynx2 应用领域
Sensofar的共聚焦白光干涉轮廓仪S lynx2,凭借其非接触、三维、可量化的测量特点,在多个需要对表面微观形貌进行分析的行业中找到了应用场景。
1. 半导体与微电子制造:
在集成电路和微机电系统(MEMS)的制造过程中,需要对光刻胶图形、刻蚀后的结构、化学机械抛光(CMP)后的表面、以及各种薄膜的厚度和台阶高度进行测量。S lynx2的白光干涉模式适合测量光滑硅片上的微小台阶和薄膜厚度(通过测量台阶边缘),而其共聚焦模式可用于检查粗糙度较高的衬底或背面处理表面。
2. 精密加工与模具工业:
用于评估车、铣、磨、抛光等工艺加工后的工件表面质量。可以测量表面粗糙度参数(如Sa, Sz),评估纹理方向性,检查模具型腔的表面光洁度和微观纹理的复制效果。对于刀具,可以测量刃口半径和磨损形貌。
3. 汽车与航空航天部件检测:
发动机关键部件(如活塞环、缸套、涡轮叶片)的表面处理层(如涂层、镀层)的厚度、均匀性和表面形貌是影响性能的重要因素。S lynx2可以对涂层截面或特定区域进行三维形貌测量和粗糙度分析。此外,也可用于检查密封面的平整度、齿轮面的磨损情况等。
4. 显示与触控面板行业:
用于测量液晶显示器(LCD)或有机发光二极管(OLED)面板中的间隔物(Spacer)高度、彩色滤光片(CF)的厚度与均匀性、以及像素结构尺寸。在触摸屏制造中,可用于检查ITO(氧化铟锡)导电薄膜的线路形貌和缺陷。
5. 材料科学与研发:
在研究新材料时,表面形貌是重要表征参数。S lynx2可用于分析金属材料的晶粒结构、腐蚀形貌;陶瓷材料的烧结表面与断口;高分子材料的注塑表面、薄膜表面;复合材料的界面结合情况等。其三维数据可用于计算表面积、体积、孔隙率等参数。
6. 医疗设备与生物材料:
在医疗器械领域,可用于测量植入物(如人工关节、牙科种植体)的表面粗糙度和纹理,这些特征可能影响其生物相容性和骨整合能力。也可用于分析药物涂层支架的表面涂层形貌与均匀性。
7. 学术研究与教育:
在大学和科研院所,S lynx2可作为教学工具和科研设备,用于物理、化学、材料、机械、微电子等专业的实验课程和课题研究,帮助学生和研究人员直观地观察和量化微观表面结构。
8. 质量控制与失效分析实验室:
在工厂的质检部门或第三方检测机构,S lynx2可用于对来料、生产线样品或成品进行常规或抽样检验。当产品出现功能失效时,可用于进行根源分析,如检查是否存在异常的划痕、凹坑、凸起、尺寸偏差或涂层脱落等问题。
9. 光学元件与薄膜工业:
可用于测量光学透镜、反射镜的表面面形误差(局部起伏)、检查增透膜等光学薄膜的表面质量,以及测量微结构光学元件(如衍射元件、微透镜阵列)的三维形貌。

综上所述,共聚焦白光干涉轮廓仪S lynx2的应用覆盖了从基础研发到工业生产的多个环节。其将两种测量技术集于一体的特点,为用户在面对不同反射特性、不同粗糙度的多样化样品时,提供了灵活的选择,使其成为表面计量领域一个值得考虑的选项。

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