泽攸台阶仪：纳米级形貌测量的创新之选 在半导体制造、新材料研发与生物医疗领域，微观表面形貌的精准量化是推动技术迭代的核心要素。泽攸科技凭借多年技术沉淀，推出JS系列台阶仪，以模块化设计与自主创新技术，为科研与工业用户提供高适应性的形貌测量解决方案。

泽攸 集成化的台阶测量方案 泽攸台阶仪凭借灵活的配置，可适应多样化的测量需求。其采用模块化设计，传感器与工作台均可根据样品特性更换，提升设备的适用范围。

泽攸深度测量的可靠选择 泽攸 台阶仪凭借灵活的配置，可适应多样化的测量需求。其采用模块化设计，传感器与工作台均可根据样品特性更换，提升设备的适用范围。

泽攸多场景适配的台阶仪 泽攸 台阶仪在设计上注重扩大测量范围的同时保持测量精度，其驱动系统采用伺服电机，运行平稳，扫描过程中触针测力波动小。

泽攸兼顾广度与精度的台阶仪 泽攸 台阶仪在设计上注重扩大测量范围的同时保持测量精度，其驱动系统采用伺服电机，运行平稳，扫描过程中触针测力波动小。

泽攸 台阶仪：微观形貌的忠实记录者 泽攸台阶仪以稳定的测量表现，成为材料表面分析的实用工具。其核心测量系统采用高精度光栅尺，配合精密驱动机构，为位移测量提供可靠基础。