在现代工业制造、科研实验和质量控制领域，高精度的表面形貌测量至关重要。无论是半导体、光学元件、精密加工，还是生物医学和材料科学研究，都需要高分辨率、高重复性的测量手段。西班牙Sensofar公司推出的共聚焦白光干涉仪（Confocal White Light Interferometer）凭借其超高精度、快速测量和多功能性，成为全球表面测量技术的选择。Sensofar高精度表面测量的革命性工具

Sensofar 白光干涉仪从纳米尺度到工业尺度当一块半导体晶圆上的纳米级缺陷可能导致整个芯片失效，当 PCB 板上 0.1 微米的通孔误差会影响航天器通信系统，当心脏支架表面的粗糙度直接关系到患者生命安全 —— 精密制造领域的每一个维度都在呼唤更精准、更高效的测量技术。来自西班牙的 Sensofar 集团，以其革命性的共聚焦白光干涉测量技术，正在重新定义全球计量工具的标准。

Sensofar白光干涉：不受反光材料的影响，Sensofar 表面轮廓仪 S neox的光学干涉技术Sensofar 白光干涉S neox仪高数值孔径物镜 的一大核心亮点。在其传感器头中，巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面叠加和膜厚测量等多种*测量技术。只需轻松点击一次，系统便能依据当前测量任务的具体需求，自动智能地切换到较为适配的优良技术。

西班牙Sensofar表面轮廓仪S neox：干涉原理Sensofar 表面轮廓仪 S neox的光学干涉技术Sensofar 白光干涉S neox仪高数值孔径物镜 的一大核心亮点。在其传感器头中，巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面叠加和膜厚测量等多种*测量技术。只需轻松点击一次，系统便能依据当前测量任务的具体需求，自动智能地切换到较为适配的优良技术。

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