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Sensofar S wide：难测样品也能轻松应对 在光学行业检测透明样品（如大尺寸玻璃盖板、光学镜片、透明薄膜）时，传统设备常因表面反光导致数据失真，而 Sensofar S wide 通过专属光学设计，能轻松应对这类难题，无需额外加装复杂附件。
更新时间：2025-10-24
产品型号：S-wide
浏览量：92
Sensofar S wide一次扫全大尺寸样品测量仪 在检测大尺寸样品（如电路板、光学镜片、模具型腔）时，传统 3D 轮廓仪常因视野有限，需要多次扫描后拼接数据，不仅耗时久，还可能因拼接偏差影响结果准确性。
更新时间：2025-10-24产品型号：S-wide浏览量：77
Sensofar在半导体晶圆薄膜厚度测量中的应用 Sensofar S neox 通过 4‑in‑1 光学技术（共聚焦、白光干涉、多焦面叠加、光谱反射）实现对晶圆薄膜的非接触、亚纳米级厚度测量。以下从测量原理、典型案例、操作流程、数据输出四个维度展开说明。
更新时间：2025-10-23产品型号：S neox浏览量：93
Sensofar光学轮廓仪在光学元件制造中的应用Sensofar光学轮廓仪智能化检测与分析系统 Sensofar S neox 将共聚焦显微、白光干涉和多焦面叠加三大技术融合在同一平台，实现从超光滑到粗糙表面的全场景测量。
更新时间：2025-10-23产品型号：S neox浏览量：84Sensofar光学轮廓仪智能化检测与分析系统 SensoSCAN软件作为S neox的核心配套软件，采用模块化界面设计，支持测量模式选择、参数设置与实时成像。
更新时间：2025-10-23产品型号：S neox浏览量：101Sensofar三维光学轮廓仪突破实验室应用限制 S neox具备优异的环境适应性，可在多种复杂环境下稳定工作。设备采用工程塑料与金属支撑结构，兼顾轻量化与抗冲击性能，抗振动性能优异。
更新时间：2025-10-23产品型号：S neox浏览量：96