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  • 202411-29
    白光干涉仪一款超精密测量的光学仪器

    白光干涉仪,作为一种高精度的光学测量仪器,广泛应用于科研、工业生产和质量检测等多个领域。它基于光学干涉原理,能够实现对物体表面微观形貌的精确测量,具有测量精度高、操作便捷、功能齐全和测量参数涵盖面广的优点。白光干涉仪的结构主要包括照明光源系统、光学成像系统、垂直扫描控制系统、数据处理系统和应用软件。照明光源系统通常采用高亮度LED光源,提供稳定、均匀的光源。光学成像系统则负责接收从样品和参考镜反射回来的光线,并形成清晰的图像或干涉条纹。垂直扫描控制系统能够精密驱动显微物镜上下...

  • 202411-29
    光学显微镜颗粒度分析应用

    分析任一颗粒颗粒度分析中经常需要就颗粒数目、尺寸及粒径分布等对样品数字图像进行分析。在不同行业中,这些颗粒可能是金属尾矿或是其它污染物,如液体中的微晶或气孔或机器零件中的瑕疵或气泡。这方面的分析需要具备精确测量、高分辨率、电动载物台和图像拼接,以及图像分析软件。残留污垢颗粒度分析的一个重要应用便是残余污垢的测定。许多行业都要求依据行业标准和规定,控制并记录产品的清洁度。一个已加工好的零部件可能布满灰尘,或残留有各种污物。随机抽选配件,用定量液体冲洗,然后通过滤膜加压,所有灰尘...

  • 202411-29
    Sensofar共聚焦白光干涉仪测量原理

    增强型光学测量技术虽然一开始作为高性能3D光学轮廓仪设计,但是我们的某些系统胜过所*现有的光学轮廓仪,集所有技术于一身。条纹投影AI多焦面叠加共聚焦干涉光谱反射条纹投影非常适合大面积测量,垂直精度和可重复性高,系统噪声低。了解更多产品阵容技术组合我们的系统采用不同光学测量技术进行工作,一部分系统采用组合技术。聚集这些技术的优点,外加*新技*和操作软件,成就市场上*具竞争力的高级测量设备。为何使用四合一技术?采用Sensofar的四合一法–正如Sneox系统那样–在软件中单击一...

  • 202411-28
    光学显微镜金相学应用

    我们熟知各类规范和标准许多金相学分析方法都是在特定的规范和标准下执行的,如对钢中非金属夹杂物(NMI)的测定或者晶粒度分析等。为依据国际标准来测定这些参数,您需要一台金相显微镜或是配有专业软件模块的显微镜系统。钢中非金属夹杂物(NMI)含量是一个影响钢铁强度和韧性的重要因素,对其标准的测定需要在配有专业软件模块的显微镜系统下进行。如果您在钢铁工业工作或是生产钢铁产品(如汽车业或机械制造业),则需要一套能够依照现行国际标准自动重复分析NMI含量的显微系统。控制晶粒大小晶粒度分析...

  • 202411-28
    三维共聚焦白光干涉仪用于汽车发动机缸套的纹理几何形状评估

    西班牙SensofarSneox三维共聚焦白光干涉仪用于汽车发动机缸套的纹理几何形状评估激光加工可通过应用纹理来开发工程表面,可以产生增强的功能性能,如表面摩擦、触感行为、润湿性能等。使用皮秒和飞秒级的超短脉冲进行激光加工,可加工出具有高度精确的微观几何形状、边缘和表面的表面纹理。五轴激光加工能够对具有复杂轮廓的三维组件进行无缝纹理处理。测量数据SensofarSneox3D光学轮廓仪已成为MTC表面纹理不可或*的一部分,发挥了重要作用。与汽车公司合作的实验研究中,MTC开发...

  • 202411-27
    Sensofar 大视野光学轮廓仪|条纹投影

    背景条纹投影原理将结构光以一定角度投射到样本上,用相机接收反射光。投射到某个表面上时,投射光型改变,因此,通过确定条纹图形与高度变化之间的相互关系,我们就可获得3D图像。光学方案为了在现场样本上获得均匀、聚焦且等距的条纹投影,Scheimpflug配置与双远心镜头一起使用。不管物体在视场中的距离或位置如何,均有恒定的放大倍率,是测量用途的理想之选。主要特征正确单拍采集垂直精度高的大区域而且可重复性高(σ=0.01µm),系统噪声低至0.5µm实像颜色没...

  • 202411-27
    Sensofar共聚焦白光干涉仪 | AI多焦面叠加技术

    主动照明多焦面叠加是一种为了测量粗糙的表面形状而开发的光学技术。这项技术基于Sensofar在共聚焦和干涉3D测量领域的广泛专业知识,专门设计用于补充低放大率下的测量。BACKGROUND多焦面叠加原理主动照明多焦面叠加技术利用了明场中存在景深的特点,样品只有在的特定z范围中对焦。景深会根据物镜的数值孔径或光源波长而变化。Z高度的值是根据图像的高对比度(清晰度或微小细节)来计算的,从而得出正确的对焦位置。光学技术我们的光学技术是通过专*的microdisplay来实现,光线会...

  • 202411-26
    Sensofar共聚焦白光干涉仪 共聚焦技术

    Sensofar共聚焦白光干涉仪|共聚焦技术共聚焦技术能够测量表面高度,将常规图像转换成光学剖面,其中,物镜焦深范围内的那些区域的信号被保留,改善了图像对比度、横向分辨率和系统噪声。光学方案对于3D成像,必须从相机的所有像素获取数据。这意味着:重新构建共聚焦图像。为此,多狭缝图像偏移一个像素,达到必要的次数,以填充相机。多狭缝每偏移一次,拍一张相机图像,对那一刻照亮的像素应用共聚焦算法。SENSOFAR专*技术光学结构中没有运动零件Sensofar系统中实施的共聚焦扫描技术是...

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