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更新时间:2026-01-04
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BEUKER白光干涉仪:表面形貌测量新选择 BEUKER白光干涉光学轮廓仪采用非接触式测量技术,适用于微纳米级表面形貌分析。其核心部件采用高质量光学镜头和稳定光源系统,确保测量数据的可靠性。
更新时间:2026-01-04
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布鲁克白光干涉光学轮廓仪形貌测量新维度布鲁克Contour X系列白光干涉光学轮廓仪,以光学干涉技术为核心,通过非接触式测量实现亚纳米级表面形貌分析。其垂直分辨率突破0.1nm,横向采样密度达640×480点/次,可在5-20秒内完成单次扫描,兼顾效率与精度。
更新时间:2026-01-04
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