Sensofar新型高精度3D测量系统S wide

产品简介

Sensofar新型高精度3D测量系统S wide ，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。

产品型号：

更新时间：2025-03-24

厂商性质：代理商

访问量：698

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产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

　　Sensofar新型高精度3D测量系统S wide

　　一、应用领域：

　　主要应用于，大面积 3D 光学测量系统、先进制造业、考古学与古生物学、消费类电子产品、医疗设备、模塑、光学、钟表业等行业。

　　二、产品优势：

　　1.亚微米高度可重复性，可扩展整个区域内

Sensofar新型高精度3D测量系统S wide

　　2. 无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度

　　3.具有极低场失真的双侧远心镜头，提供精确的测量

Sensofar新型高精度3D测量系统S wide

　　4.可追溯性：采用ISO 标准

　　Sensofar新型高精度3D测量系统S wide 每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。

　　5.与 3D CAD 模型的形状偏差：提供几何差异和公差测量

Sensofar新型高精度3D测量系统S wide

　　6. 表面纹理测量仪器的校准

　　我们的所有系统精心制造，提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列参数的指南的可追溯标准进行校准：Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度。

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