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PRODUCTS CNTER当前位置:首页产品中心三维光学轮廓仪新型高精度3D测量系统Sensofar新型高精度3D测量系统
Sensofar新型高精度3D测量系统S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。
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Sensofar新型高精度3D测量系 每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。
我们的所有系统精心制造,提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列参数的指南的可追溯标准进行校准:Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度。