在微观测量的广阔天地里，布鲁克 ContourX - 500 白光干涉光学轮廓仪凭借其魅力，吸引着众多科研人员与工业生产者的目光，为他们的工作带来高效与精准。布鲁克白光干涉轮廓仪桌面级测量的得力之选
产品细节：紧凑外观，便捷操作
ContourX - 500 采用紧凑的桌面式设计，不占过多空间，特别适合实验室空间有限的环境。操作界面简洁直观，各类功能按钮一目了然，新手也能快速熟悉操作流程。样品台设计巧妙，具备高精度的移动和定位功能，可灵活调整样品位置，确保测量区域准确无误。设备配备的 5MP 摄像头及 1200x1000 测量阵列，有效降低噪声，提升横向分辨率，让微小细节清晰呈现。
产品性能：多元技术，出色表现
这款轮廓仪融合了*的白光干涉技术与精密光学系统。白光干涉技术通过分析不同波长光干涉产生的条纹，精准识别样品表面微观起伏。测量过程中，设备运行稳定，受外界环境干扰影响小，保障测量结果的稳定性与一致性。它拥有出色的 Z 轴分辨率和准确度，可在多种复杂表面上获取高质量测量数据。测量范围灵活，能根据样品需求调整参数，无论是对大面积区域进行快速扫描，还是针对微小局部进行精细测量，都能轻松胜任。
用材讲究：优质选材，耐用可靠
布鲁克在 ContourX - 500 的选材上严格把关。核心光学部件采用高品质光学玻璃，具备出色的透光性和低色散特性，减少光线传播中的能量损失与图像畸变，保证测量成像清晰准确。内部机械结构选用高强度、耐磨的金属材料，如传动部件采用优质合金钢，确保长期高频使用下，依然维持精确的运动精度和良好的机械性能，延长设备使用寿命，降低维护成本。设备外壳坚固且抗腐蚀，有效保护内部精密部件，适应多样的使用环境。
参数详情
广泛用途
在半导体工艺的质量保证与质量控制（QA/QC）计量中，ContourX - 500 可精确测量晶圆表面的平整度、刻蚀图案的深度与宽度等参数，助力提升芯片制造质量。在眼科领域，能对隐形眼镜等光学器件的表面形貌进行检测，确保产品符合光学性能标准。对于微机电系统（MEMS）器件的研发表征，该轮廓仪可清晰呈现微小结构的表面特征，为器件性能优化提供关键数据支持。凭借精巧的设计、可靠的性能与丰富的功能，布鲁克 ContourX - 500 白光干涉光学轮廓仪成为桌面级微观测量的理想选择，为各行业的精密测量工作注入强大动力。布鲁克白光干涉轮廓仪桌面级测量的得力之选
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