在科研与工业生产中，对微观世界的精准探索离不开得力的测量工具。布鲁克 ContourGT - K 白光干涉光学轮廓仪，以其设计与实用性能，为各领域提供了可靠的测量支持。布鲁克白光干涉轮廓仪 微观世界的测量伙伴
产品细节：设计精巧，操作简便
ContourGT - K 外观紧凑，易于安置在各类实验台或生产线上。其操作界面友好，按键布局合理，搭配清晰的显示屏，操作人员能迅速上手，轻松完成参数设置。样品台可灵活调节，能稳固承载不同形状与尺寸的样品，从微小的电子元件到较大的机械部件，都能确保测量位置精准。设备的光学镜头保护良好，减少了灰尘、碰撞等外界因素干扰，保障测量的稳定性。
产品性能：技术融合，稳定可靠
该轮廓仪融合*的白光干涉技术与精密光学系统，通过分析光的干涉现象，精准还原样品表面三维形貌。测量过程中，设备运行平稳，数据采集连贯，测量结果一致性佳。它能适应多种表面特性，无论是光滑的光学镜片，还是粗糙的金属加工表面，都能获取有效的测量数据。测量范围灵活可变，既适用于小范围精细结构的测量，也能满足大面积区域的快速扫描需求。
用材讲究：品质选材，经久耐用
布鲁克在 ContourGT - K 的选材上十分用心。核心光学部件采用高透光率、低色散的光学玻璃，确保光线传输稳定，成像清晰准确。机械传动部分选用耐磨、高强度的合金材料，长期高频使用下，依然能保持出色的运动精度，延长设备使用寿命。设备外壳坚固且具备一定的抗腐蚀能力，有效保护内部精密部件，适应多样的工作环境。
参数详情
广泛用途
在半导体制造中，可精确测量芯片表面的粗糙度、线路宽度与深度，助力提升芯片性能与良品率。在光学元件生产里，能对透镜、棱镜的表面面形误差进行检测，保障光学元件的成像质量。材料科学研究时，用于分析薄膜厚度、表面微观结构，为新材料研发提供关键数据。此外，在微机电系统（MEMS）制造、医疗器械生产等领域，也能发挥重要的质量检测作用。
使用说明
使用前，仔细检查设备外观有无损坏，各部件连接是否牢固。将设备放置在平稳、无振动的工作台上，确保工作环境温度、湿度适宜，避免环境因素影响测量精度。连接好电源及相关配件后，按照说明书进行设备初始化设置。安装样品时，依据样品特性选择合适的固定方式，确保样品稳固且处于正确测量位置。设置测量参数时，根据样品类型、测量目的谨慎选择测量范围、分辨率、扫描模式等。测量过程中，密切关注设备运行状态，若发现图像异常、测量数据波动过大等情况，立即停止测量，排查故障原因，如检查光路是否有遮挡、样品是否发生位移等。测量完成后，及时关闭设备电源，清理样品台，定期对设备进行全面清洁与维护，包括对光学部件进行清洁、对机械传动部件进行润滑等，确保设备始终处于良好工作状态。凭借出色的设计、可靠的性能与广泛的适用性，布鲁克 ContourGT - K 白光干涉光学轮廓仪成为微观测量领域的得力助手，助力各行业迈向精密制造与科研新高度。
布鲁克白光干涉轮廓仪 微观世界的测量伙伴
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